低电压存储器的存储器内建自测试纠错码(MBIST ECC)

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202010143454.X
申请日
2020-03-04
公开(公告)号
CN111798912A
公开(公告)日
2020-10-20
发明(设计)人
D·I·哈纳甘迪 I·阿尔索夫斯基 M·A·齐格霍弗尔 V·H·奇卡诺斯凯 K·R·罗德哈
申请人
申请人地址
开曼群岛大开曼岛
IPC主分类号
G11C2942
IPC分类号
G11C2912 G06F1110
代理机构
北京市中咨律师事务所 11247
代理人
贺月娇;杨晓光
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
字节使能存储器内建自测试(MBIST)算法 [P]. 
G·希科 ;
F·阿迈德 ;
C·郑 .
中国专利 :CN111247588B ,2020-06-05
[2]
存储器内建自测试方法 [P]. 
杨修 ;
唐杜娟 .
中国专利 :CN101339811A ,2009-01-07
[3]
存储器内建自测试电路 [P]. 
李鸣 .
中国专利 :CN102903393B ,2013-01-30
[4]
纠错码存储器 [P]. 
I·珀若撒盼 ;
P·萨拉夫 ;
D·P·M·费尔南迪斯 ;
S·贾兰 .
美国专利 :CN118860734A ,2024-10-29
[5]
纠错码存储器 [P]. 
I·珀若撒盼 ;
P·萨拉夫 ;
D·P·M·费尔南迪斯 ;
S·贾兰 .
美国专利 :CN110352407B ,2024-07-23
[6]
纠错码存储器 [P]. 
I·珀若撒盼 ;
P·萨拉夫 ;
D·P·M·费尔南迪斯 ;
S·贾兰 .
中国专利 :CN110352407A ,2019-10-18
[7]
存储器的内建自测试系统 [P]. 
彭涛 .
中国专利 :CN111292795B ,2020-06-16
[8]
存储器的内建自测试系统 [P]. 
王建群 ;
徐成宇 .
中国专利 :CN120164513A ,2025-06-17
[9]
内建自测试电路及存储器 [P]. 
陆天辰 .
中国专利 :CN119694372A ,2025-03-25
[10]
存储器内建自测试方法及其装置 [P]. 
孙圆圆 ;
王佳 .
中国专利 :CN117766010A ,2024-03-26