一种磁感芯片测试设备

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申请号
CN202123140301.9
申请日
2021-12-14
公开(公告)号
CN216956107U
公开(公告)日
2022-07-12
发明(设计)人
张鲁迅 吴碧超 刘华斌
申请人
申请人地址
519000 广东省珠海市斗门区白蕉科技工业园白蕉南路27号(1#厂房)五楼B502-2
IPC主分类号
G01R104
IPC分类号
G01R2726
代理机构
广东中衢知识产权代理事务所(普通合伙) 44755
代理人
林静涛
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
一种磁感芯片测试台 [P]. 
史科峰 .
中国专利 :CN212514321U ,2021-02-09
[2]
一种芯片测试设备 [P]. 
张学伟 .
中国专利 :CN218350320U ,2023-01-20
[3]
一种磁感偏转角度测试设备 [P]. 
何国强 ;
依楠 ;
肖春鹏 ;
杨鲁荣 ;
尚俊凯 ;
颜建国 .
中国专利 :CN220982188U ,2024-05-17
[4]
一种磁环测试设备 [P]. 
王祖敏 ;
周红武 .
中国专利 :CN218213207U ,2023-01-03
[5]
一种芯片测试设备及芯片测试系统 [P]. 
吴永红 ;
黄建军 ;
赵山 ;
陈建丛 ;
孙钦华 .
中国专利 :CN222354016U ,2025-01-14
[6]
一种芯片测试设备 [P]. 
覃开福 .
中国专利 :CN215263841U ,2021-12-21
[7]
一种芯片测试设备 [P]. 
徐银森 ;
林佳 ;
罗双武 ;
黄海霞 .
中国专利 :CN223333757U ,2025-09-12
[8]
一种芯片测试设备 [P]. 
张少宏 .
中国专利 :CN209070074U ,2019-07-05
[9]
一种芯片测试设备 [P]. 
吕波 .
中国专利 :CN216757290U ,2022-06-17
[10]
一种芯片测试设备 [P]. 
王树锋 ;
梁晖 ;
陈小兵 .
中国专利 :CN119916180A ,2025-05-02