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一种磁感芯片测试设备
被引:0
申请号
:
CN202123140301.9
申请日
:
2021-12-14
公开(公告)号
:
CN216956107U
公开(公告)日
:
2022-07-12
发明(设计)人
:
张鲁迅
吴碧超
刘华斌
申请人
:
申请人地址
:
519000 广东省珠海市斗门区白蕉科技工业园白蕉南路27号(1#厂房)五楼B502-2
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
G01R2726
代理机构
:
广东中衢知识产权代理事务所(普通合伙) 44755
代理人
:
林静涛
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-07-12
授权
授权
共 50 条
[1]
一种磁感芯片测试台
[P].
史科峰
论文数:
0
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0
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0
史科峰
.
中国专利
:CN212514321U
,2021-02-09
[2]
一种芯片测试设备
[P].
张学伟
论文数:
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张学伟
.
中国专利
:CN218350320U
,2023-01-20
[3]
一种磁感偏转角度测试设备
[P].
何国强
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机构:
湖南赫莫尼科技有限公司
湖南赫莫尼科技有限公司
何国强
;
依楠
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机构:
湖南赫莫尼科技有限公司
湖南赫莫尼科技有限公司
依楠
;
肖春鹏
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机构:
湖南赫莫尼科技有限公司
湖南赫莫尼科技有限公司
肖春鹏
;
杨鲁荣
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湖南赫莫尼科技有限公司
湖南赫莫尼科技有限公司
杨鲁荣
;
尚俊凯
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湖南赫莫尼科技有限公司
湖南赫莫尼科技有限公司
尚俊凯
;
颜建国
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机构:
湖南赫莫尼科技有限公司
湖南赫莫尼科技有限公司
颜建国
.
中国专利
:CN220982188U
,2024-05-17
[4]
一种磁环测试设备
[P].
王祖敏
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王祖敏
;
周红武
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周红武
.
中国专利
:CN218213207U
,2023-01-03
[5]
一种芯片测试设备及芯片测试系统
[P].
吴永红
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苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
吴永红
;
黄建军
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
黄建军
;
赵山
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苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
赵山
;
陈建丛
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苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
陈建丛
;
孙钦华
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机构:
苏州联讯仪器股份有限公司
苏州联讯仪器股份有限公司
孙钦华
.
中国专利
:CN222354016U
,2025-01-14
[6]
一种芯片测试设备
[P].
覃开福
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覃开福
.
中国专利
:CN215263841U
,2021-12-21
[7]
一种芯片测试设备
[P].
徐银森
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机构:
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
徐银森
;
林佳
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机构:
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
林佳
;
罗双武
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机构:
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
罗双武
;
黄海霞
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机构:
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
四川遂宁市利普芯微电子有限公司
黄海霞
.
中国专利
:CN223333757U
,2025-09-12
[8]
一种芯片测试设备
[P].
张少宏
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张少宏
.
中国专利
:CN209070074U
,2019-07-05
[9]
一种芯片测试设备
[P].
吕波
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吕波
.
中国专利
:CN216757290U
,2022-06-17
[10]
一种芯片测试设备
[P].
王树锋
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机构:
前海晶方云(深圳)测试设备有限公司
前海晶方云(深圳)测试设备有限公司
王树锋
;
梁晖
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机构:
前海晶方云(深圳)测试设备有限公司
前海晶方云(深圳)测试设备有限公司
梁晖
;
陈小兵
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机构:
前海晶方云(深圳)测试设备有限公司
前海晶方云(深圳)测试设备有限公司
陈小兵
.
中国专利
:CN119916180A
,2025-05-02
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