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玻璃瓶口缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
被引:0
申请号
:
CN202211234402.9
申请日
:
2022-10-10
公开(公告)号
:
CN115330754A
公开(公告)日
:
2022-11-11
发明(设计)人
:
邓家辉
蔡志相
文龙
姚平
申请人
:
申请人地址
:
430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷大道特1号国际企业中心2栋4层05号(自贸区武汉片区)
IPC主分类号
:
G06T700
IPC分类号
:
G06V1040
G06V1080
G06V1082
G06N304
代理机构
:
武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙) 42225
代理人
:
余浩
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-11-11
公开
公开
2022-12-23
授权
授权
2022-11-29
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20221010
共 50 条
[1]
一种玻璃瓶口缺陷的检测方法、系统、装置及存储介质
[P].
陈从桂
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈从桂
;
谢德芳
论文数:
0
引用数:
0
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0
谢德芳
;
谢宏威
论文数:
0
引用数:
0
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0
谢宏威
;
黎鑫泽
论文数:
0
引用数:
0
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0
黎鑫泽
;
张浩
论文数:
0
引用数:
0
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0
张浩
.
中国专利
:CN112561896A
,2021-03-26
[2]
瓶口缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
[P].
林国森
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
创新奇智(青岛)科技有限公司
创新奇智(青岛)科技有限公司
林国森
;
高凌燕
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
创新奇智(青岛)科技有限公司
创新奇智(青岛)科技有限公司
高凌燕
.
中国专利
:CN117036273B
,2025-11-25
[3]
玻璃瓶内异物检测方法、装置及存储介质
[P].
韩佳琦
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海太易检测技术有限公司
上海太易检测技术有限公司
韩佳琦
;
刘志博
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海太易检测技术有限公司
上海太易检测技术有限公司
刘志博
;
施利辉
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海太易检测技术有限公司
上海太易检测技术有限公司
施利辉
;
幸波
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海太易检测技术有限公司
上海太易检测技术有限公司
幸波
.
中国专利
:CN119880962A
,2025-04-25
[4]
玻璃瓶内异物检测方法、装置及存储介质
[P].
韩佳琦
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
上海太易检测技术股份有限公司
上海太易检测技术股份有限公司
韩佳琦
;
刘志博
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海太易检测技术股份有限公司
上海太易检测技术股份有限公司
刘志博
;
施利辉
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海太易检测技术股份有限公司
上海太易检测技术股份有限公司
施利辉
;
幸波
论文数:
0
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0
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0
机构:
上海太易检测技术股份有限公司
上海太易检测技术股份有限公司
幸波
.
中国专利
:CN119880962B
,2025-07-18
[5]
一种用于玻璃瓶口不足的缺陷检测方法
[P].
陈尧
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
岳阳市昱华玻璃制品有限公司
岳阳市昱华玻璃制品有限公司
陈尧
.
中国专利
:CN115713485B
,2025-11-21
[6]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
[P].
请求不公布姓名
论文数:
0
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0
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0
机构:
深存科技(无锡)有限公司
深存科技(无锡)有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
论文数:
0
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0
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0
机构:
深存科技(无锡)有限公司
深存科技(无锡)有限公司
请求不公布姓名
;
请求不公布姓名
论文数:
0
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0
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0
机构:
深存科技(无锡)有限公司
深存科技(无锡)有限公司
请求不公布姓名
.
中国专利
:CN120782736A
,2025-10-14
[7]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
[P].
莫承见
论文数:
0
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0
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机构:
维谛技术有限公司
维谛技术有限公司
莫承见
;
曾莹
论文数:
0
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0
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0
机构:
维谛技术有限公司
维谛技术有限公司
曾莹
;
高映军
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
维谛技术有限公司
维谛技术有限公司
高映军
;
张伟贤
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
维谛技术有限公司
维谛技术有限公司
张伟贤
.
中国专利
:CN120236113A
,2025-07-01
[8]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
[P].
王昌安
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
腾讯科技(深圳)有限公司
腾讯科技(深圳)有限公司
王昌安
.
中国专利
:CN117197134B
,2024-11-01
[9]
缺陷检测方法、装置、设备及存储介质
[P].
辛悦悦
论文数:
0
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0
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机构:
武汉轻工大学
武汉轻工大学
辛悦悦
;
论文数:
引用数:
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机构:
郭峰林
;
论文数:
引用数:
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机构:
张正林
;
论文数:
引用数:
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机构:
杜艾卿
;
孙颖
论文数:
0
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机构:
武汉轻工大学
武汉轻工大学
孙颖
;
彭朱静
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
武汉轻工大学
武汉轻工大学
彭朱静
;
窦伟
论文数:
0
引用数:
0
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机构:
武汉轻工大学
武汉轻工大学
窦伟
;
綦凯达
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
武汉轻工大学
武汉轻工大学
綦凯达
.
中国专利
:CN117252824B
,2025-10-31
[10]
缺陷检测方法、缺陷检测装置及存储介质
[P].
郑贤超
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
睿励科学仪器(上海)有限公司
睿励科学仪器(上海)有限公司
郑贤超
;
葛亮
论文数:
0
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0
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0
机构:
睿励科学仪器(上海)有限公司
睿励科学仪器(上海)有限公司
葛亮
.
中国专利
:CN117830255A
,2024-04-05
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