基于难测路径选择的集成电路检测方法和系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201811235172.1

申请日：

2018-10-23

公开(公告)号：

CN109557449B

公开(公告)日：

2019-04-02

发明(设计)人：

叶靖井鹏飞李晓维李华伟胡瑜赵鑫王莉菲

申请人：

申请人地址：

100080 北京市海淀区中关村科学院南路6号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006

代理人：

祁建国;梁挥

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-04-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20181023
2019-04-02	公开	公开
2020-04-03	授权	授权

共 50 条

[1]

集成电路检测方法 [P].

张胜禹 .

中国专利 :CN117572216A ,2024-02-20

[2]

微集成电路检测系统及其检测方法 [P].

郭雅佩 ;

陈俊霖 .

中国专利 :CN118671563A ,2024-09-20

[3]

集成电路检测设备 [P].

黄世轩 .

中国专利 :CN223332886U ,2025-09-12

[4]

集成电路检测装置 [P].

周文进 ;

陈峰 .

中国专利 :CN101165476B ,2008-04-23

[5]

集成电路检测机 [P].

张原龙 .

中国专利 :CN1908635A ,2007-02-07

[6]

一种用于集成电路的电路检测方法 [P].

龙薇丽 .

中国专利 :CN115372793A ,2022-11-22

[7]

基于特征选择和深度学习的集成电路路径延时预测方法 [P].

曹鹏 ;

程旭 ;

杨泰 .

中国专利 :CN115146580B ,2025-04-08

[8]

基于特征选择和深度学习的集成电路路径延时预测方法 [P].

曹鹏 ;

程旭 ;

杨泰 .

中国专利 :CN115146580A ,2022-10-04

[9]

基于TDDB效应的集成电路寿命检测方法和系统 [P].

谢小东 ;

李新瑞 ;

李平 .

中国专利 :CN106291331A ,2017-01-04

[10]

一种集成电路检测方法、装置及系统 [P].

邓建平 ;

曾诚 ;

朱青松 .

中国专利 :CN104635141B ,2015-05-20

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