测量光源以及用于检测反射光谱的测量设施

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202080023955.2
申请日
2020-03-17
公开(公告)号
CN113711011A
公开(公告)日
2021-11-26
发明(设计)人
约尔格·马格拉夫
申请人
申请人地址
德国耶拿
IPC主分类号
G01N2155
IPC分类号
G01N2131 G01N2184 G01N2157
代理机构
中原信达知识产权代理有限责任公司 11219
代理人
杨靖;韩毅
法律状态
实质审查的生效
国省代码
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共 50 条
[21]
用于根据内窥镜成像期间获得的反射光谱测量测量癌变的方法和装置 [P]. 
曾海山 ;
亚瑟·谢里夫·费兹 .
中国专利 :CN101137322B ,2008-03-05
[22]
一种主动光源式作物冠层反射光谱测量装置 [P]. 
丁永前 ;
朱艳 ;
曹卫星 ;
李杨 ;
王致情 ;
谭星祥 ;
徐志刚 .
中国专利 :CN203275286U ,2013-11-06
[23]
基于积分球的漫反射光谱测量装置 [P]. 
李晨曦 ;
徐可欣 ;
汤海涛 ;
李胜 .
中国专利 :CN208270425U ,2018-12-21
[24]
一种非接触测量液体反射光谱装置 [P]. 
张姗姗 .
中国专利 :CN215448948U ,2022-01-07
[25]
一种气体响应反射光谱测量系统 [P]. 
凡俊 .
中国专利 :CN107607479A ,2018-01-19
[26]
将定向反射从漫反射光谱中消去的遮断设施 [P]. 
罗伯特·G·梅塞施米特 ;
唐纳德·W·斯延格 .
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[27]
光谱成像系统、标定方法及反射光谱测量方法 [P]. 
杨斌 ;
王洋 ;
齐莹 .
中国专利 :CN118243227A ,2024-06-25
[28]
反射光谱的简洁表示 [P]. 
安东尼奥·罗夫莱斯-凯利 ;
功·普克·修 .
中国专利 :CN102067110B ,2011-05-18
[29]
测量纳米薄膜厚度的显微式差分反射光谱测量系统及方法 [P]. 
霍树春 ;
胡春光 ;
王浩 ;
胡晓东 ;
胡小唐 .
中国专利 :CN111336932B ,2020-06-26
[30]
目标多角度反射光谱实验室测量系统 [P]. 
马茵驰 ;
丁文 .
中国专利 :CN205691231U ,2016-11-16