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一种钨化学机械平坦化的后清洗方法及晶圆
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201710811339.3
申请日
:
2017-09-11
公开(公告)号
:
CN107546110B
公开(公告)日
:
2018-01-05
发明(设计)人
:
张康
李婷
孙铭泽
申请人
:
申请人地址
:
100176 北京市经济技术开发区泰河三街1号
IPC主分类号
:
H01L2102
IPC分类号
:
H01L23538
代理机构
:
北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙) 11371
代理人
:
李丙林
法律状态
:
实质审查的生效
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2018-01-30
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/02 申请日:20170911
2019-07-12
授权
授权
2018-01-05
公开
公开
共 50 条
[1]
化学机械平坦化后清洗晶圆的方法
[P].
杨涛
论文数:
0
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杨涛
;
赵超
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赵超
;
李俊峰
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李俊峰
.
中国专利
:CN102810459A
,2012-12-05
[2]
一种晶圆化学机械平坦化控制系统及晶圆化学机械平坦化控制方法
[P].
杨晓晅
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机构:
杭州众硅电子科技有限公司
杭州众硅电子科技有限公司
杨晓晅
;
杨哲
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机构:
杭州众硅电子科技有限公司
杭州众硅电子科技有限公司
杨哲
;
周远鹏
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机构:
杭州众硅电子科技有限公司
杭州众硅电子科技有限公司
周远鹏
.
中国专利
:CN120921261A
,2025-11-11
[3]
一种晶圆化学机械平坦化方法
[P].
李嘉浪
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机构:
北京晶亦精微科技股份有限公司
北京晶亦精微科技股份有限公司
李嘉浪
;
贾若雨
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机构:
北京晶亦精微科技股份有限公司
北京晶亦精微科技股份有限公司
贾若雨
;
白琨
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机构:
北京晶亦精微科技股份有限公司
北京晶亦精微科技股份有限公司
白琨
;
吴燕林
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机构:
北京晶亦精微科技股份有限公司
北京晶亦精微科技股份有限公司
吴燕林
;
周庆亚
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机构:
北京晶亦精微科技股份有限公司
北京晶亦精微科技股份有限公司
周庆亚
;
孟晓云
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机构:
北京晶亦精微科技股份有限公司
北京晶亦精微科技股份有限公司
孟晓云
.
中国专利
:CN116117678B
,2025-11-04
[4]
晶圆清洗液、化学机械研磨后清洗方法及晶圆
[P].
席涛
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席涛
.
中国专利
:CN110900455A
,2020-03-24
[5]
一种化学机械平坦化设备及晶圆处理方法
[P].
李伟
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机构:
北京晶亦精微科技股份有限公司
北京晶亦精微科技股份有限公司
李伟
;
尹影
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机构:
北京晶亦精微科技股份有限公司
北京晶亦精微科技股份有限公司
尹影
;
张为强
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机构:
北京晶亦精微科技股份有限公司
北京晶亦精微科技股份有限公司
张为强
;
周庆亚
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机构:
北京晶亦精微科技股份有限公司
北京晶亦精微科技股份有限公司
周庆亚
;
史霄
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机构:
北京晶亦精微科技股份有限公司
北京晶亦精微科技股份有限公司
史霄
.
中国专利
:CN118832522A
,2024-10-25
[6]
一种用于铜表面化学机械平坦化后清洗的晶圆清洗液
[P].
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机构:
方淳
;
昌淼
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
昌淼
;
论文数:
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机构:
程方圆
;
论文数:
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机构:
张稳
;
秦道敏
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机构:
华中科技大学
华中科技大学
秦道敏
.
中国专利
:CN118048204A
,2024-05-17
[7]
晶圆的键合方法和化学机械平坦化方法
[P].
王贤超
论文数:
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0
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王贤超
;
张启迪
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0
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0
张启迪
.
中国专利
:CN105990163B
,2016-10-05
[8]
一种优化晶圆表面形貌的化学机械平坦化方法
[P].
岳爽
论文数:
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岳爽
;
张康
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张康
;
尹影
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0
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0
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尹影
;
李婷
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李婷
;
杨师
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杨师
.
中国专利
:CN108059921B
,2018-05-22
[9]
一种化学机械平坦化设备和晶圆传输方法
[P].
李苍
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机构:
杭州众硅电子科技有限公司
杭州众硅电子科技有限公司
李苍
;
顾静然
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机构:
杭州众硅电子科技有限公司
杭州众硅电子科技有限公司
顾静然
;
朱铭
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机构:
杭州众硅电子科技有限公司
杭州众硅电子科技有限公司
朱铭
.
中国专利
:CN110026879B
,2024-07-26
[10]
用于化学机械平坦化后的基板清洗的方法及设备
[P].
S-H·高
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S-H·高
;
L·卡鲁比亚
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L·卡鲁比亚
.
中国专利
:CN104956467B
,2015-09-30
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