用于探测X射线辐射的装置、成像设备和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200780039419.6

申请日：

2007-10-22

公开(公告)号：

CN101529274B

公开(公告)日：

2009-09-09

发明(设计)人：

R·斯特德曼 G·蔡特勒 C·赫尔曼 C·博伊默

申请人：

申请人地址：

荷兰艾恩德霍芬

IPC主分类号：

G01T117

IPC分类号：

代理机构：

永新专利商标代理有限公司 72002

代理人：

王英

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2012-07-04	授权	授权
2009-12-23	实质审查的生效	实质审查的生效
2009-09-09	公开	公开

共 50 条

[1]

用于探测X射线辐射的方法、X射线辐射探测器和CT系统 [P].

P.哈肯施密德 ;

E.克拉夫特 ;

C.施勒特 ;

M.斯特拉斯伯格 ;

S.沃思 .

中国专利 :CN104428690A ,2015-03-18

[2]

对X射线光子进行计数的装置、成像设备和方法 [P].

C·博伊默 ;

C·赫尔曼 ;

R·斯特德曼布克 ;

G·蔡特勒 .

中国专利 :CN101622551A ,2010-01-06

[3]

X射线成像设备和X射线成像方法 [P].

李宗河 ;

李彊熩 ;

成映勋 ;

韩相旭 .

中国专利 :CN103908272A ,2014-07-09

[4]

用于对X射线光子进行计数的装置、成像设备和方法 [P].

R·斯特德曼布克 ;

C·博伊默 ;

C·赫尔曼 ;

G·蔡特勒 .

中国专利 :CN101558325A ,2009-10-14

[5]

X射线辐射探测器、计算机断层成像系统和为此的方法 [P].

S.卡普勒 ;

B.克莱斯勒 ;

M.拉巴延德因扎 ;

D.尼德洛纳 ;

M.莱因万德 ;

C.施勒特 ;

J.图恩 ;

S.沃思 ;

F.迪雷 ;

K.斯蒂尔斯托弗 ;

E.戈德尔 ;

P.哈肯施密德 ;

M.斯特拉斯伯格 .

中国专利 :CN104641255A ,2015-05-20

[6]

X射线探测器和X射线成像装置 [P].

H·施泰因豪泽 ;

O·J·维默斯 ;

P·L·阿尔温 ;

M·西蒙 .

中国专利 :CN110168406A ,2019-08-23

[7]

用于倾斜角度X射线辐射的X射线探测器设备 [P].

E·勒斯尔 ;

T·克勒 .

中国专利 :CN106796302B ,2017-05-31

[8]

用于产生X射线辐射的方法和设备 [P].

F·维冈德 .

中国专利 :CN103703869A ,2014-04-02

[9]

X射线成像系统和用于牙科X射线成像的方法 [P].

T·阿尔霍诺劳 .

中国专利 :CN113907784A ,2022-01-11

[10]

用于X射线相衬系统的探测器装置和用于X射线对比成像的方法 [P].

R·普罗克绍 .

中国专利 :CN110622256A ,2019-12-27

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