一种半导体激光器可靠性测试系统

被引：0

申请号：

CN202211125130.9

申请日：

2022-09-14

公开(公告)号：

CN115327336A

公开(公告)日：

2022-11-11

发明(设计)人：

张萌陈妍

申请人：

申请人地址：

430000 湖北省武汉市东湖新技术开发区光谷二路219号鼎杰现代机电信息孵化园一期14栋5层1号

IPC主分类号：

G01R3126

IPC分类号：

G01R3101 G01R104 B07C5344

代理机构：

代理人：

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-29	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/26 申请日:20220914
2022-11-11	公开	公开

共 50 条

[1]

多工位半导体激光器可靠性测试系统 [P].

苏萌 ;

路国光 ;

徐华伟 ;

彭琦 ;

黄凯 ;

黄林轶 .

中国专利 :CN109888610A ,2019-06-14

[2]

半导体激光器的可靠性测试方法 [P].

章林强 ;

詹敦平 ;

周四海 .

中国专利 :CN102520329A ,2012-06-27

[3]

高功率半导体激光器可靠性检测系统 [P].

白端元 ;

高欣 ;

薄报学 ;

周路 .

中国专利 :CN203606464U ,2014-05-21

[4]

半导体激光器测试系统 [P].

刘兴胜 ;

刘晖 ;

王昊 .

中国专利 :CN303490424S ,2015-12-09

[5]

半导体激光器测试系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN104880298B ,2015-09-02

[6]

半导体激光器测试系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN204666336U ,2015-09-23

[7]

一种半导体激光器芯片的可靠性测试方法 [P].

陈王义博 ;

唐松 ;

杨国文 .

中国专利 :CN119147946B ,2025-04-08

[8]

一种半导体激光器芯片的可靠性测试方法 [P].

陈王义博 ;

唐松 ;

杨国文 .

中国专利 :CN119147946A ,2024-12-17

[9]

一种提高半导体激光器可靠性方法 [P].

李再金 ;

李特 ;

曲轶 ;

乔忠良 ;

李辉 ;

李林 ;

刘国军 ;

薄报学 ;

马晓辉 .

中国专利 :CN106300010A ,2017-01-04

[10]

半导体激光器LIV测试系统 [P].

穆宏伟 ;

张彩 .

中国专利 :CN201993424U ,2011-09-28

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