测试环境构建方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

申请号：

CN202210965020.7

申请日：

2022-08-11

公开(公告)号：

CN115422044A

公开(公告)日：

2022-12-02

发明(设计)人：

丁伟刘金泉闵一迪吕继朋王焕强

申请人：

申请人地址：

310052 浙江省杭州市滨江区长河街道网商路599号4幢309室

IPC主分类号：

G06F1136

IPC分类号：

G06F871 G06F861

代理机构：

北京维昊知识产权代理事务所(普通合伙) 11804

代理人：

王颖慧;陈姗姗

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-12-20	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06F 11/36 申请日:20220811
2022-12-02	公开	公开

共 50 条

[1]

测试环境的构建方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

郑海青 ;

孙才婵 ;

张仁辉 .

中国专利 :CN114791884A ,2022-07-26

[2]

测试环境的构建方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

周平平 .

中国专利 :CN118796650A ,2024-10-18

[3]

仿真环境构建方法、装置、存储介质和电子设备 [P].

张峻川 .

中国专利 :CN115469560A ,2022-12-13

[4]

接口测试环境确定方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

何新荣 .

中国专利 :CN109542757A ,2019-03-29

[5]

测试环境生成方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张婷 .

中国专利 :CN114385497A ,2022-04-22

[6]

测试序列构建方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

张文杰 ;

李果 .

中国专利 :CN112188310B ,2021-01-05

[7]

测试模块构建方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

刘金地 ;

董伟琦 ;

梁慧 ;

聂砂 ;

靖理理 .

中国专利 :CN114817041A ,2022-07-29

[8]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

高腾远 ;

薛品龙 ;

王跃辉 ;

李洋 ;

赵印凯 ;

周毅 .

中国专利 :CN119718790A ,2025-03-28

[9]

测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

綦人杰 .

中国专利 :CN117632758A ,2024-03-01

[10]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

朱捷 .

中国专利 :CN112433935A ,2021-03-02

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