测试方法、装置、存储介质及电子设备

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202311687953.5

申请日：

2023-12-08

公开(公告)号：

CN117632758A

公开(公告)日：

2024-03-01

发明(设计)人：

綦人杰

申请人：

中科驭数（北京）科技有限公司

申请人地址：

100094 北京市海淀区北清路81号院一区4号楼14层1401室

IPC主分类号：

G06F11/36

IPC分类号：

G06Q40/04

代理机构：

北京合智同创知识产权代理有限公司 11545

代理人：

李杰;董悦

法律状态：

公开

国省代码：

北京市市辖区

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-03-01	公开	公开
2024-03-19	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/36申请日:20231208

共 50 条

[1]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

高腾远 ;

薛品龙 ;

王跃辉 ;

李洋 ;

赵印凯 ;

周毅 .

中国专利 :CN119718790A ,2025-03-28

[2]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

朱捷 .

中国专利 :CN112433935A ,2021-03-02

[3]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王枫 ;

俞迟 ;

陈永恒 .

中国专利 :CN114168471A ,2022-03-11

[4]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

孙俊楠 ;

任家英 ;

杨红刚 ;

张建伟 .

中国专利 :CN117591412A ,2024-02-23

[5]

测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈铭 ;

王海斌 .

中国专利 :CN120583010A ,2025-09-02

[6]

测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

赵俊阳 ;

王桐 .

:CN113297062B ,2025-03-07

[7]

测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P].

赵俊阳 ;

王桐 .

中国专利 :CN113297062A ,2021-08-24

[8]

测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

程江民 ;

韩俊 .

中国专利 :CN114185811A ,2022-03-15

[9]

测试方法、电子设备及存储介质 [P].

刘超超 ;

华斌臣 ;

周明明 ;

曲晨冬 ;

苏敏 ;

郑伟明 .

中国专利 :CN112084076A ,2020-12-15

[10]

测试方法、电子设备及存储介质 [P].

刘超超 ;

华斌臣 ;

周明明 ;

曲晨冬 ;

苏敏 ;

郑伟明 .

中国专利 :CN112084076B ,2024-11-26

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