测试方法、装置、存储介质及电子设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202210003157.4
申请日
2022-01-04
公开(公告)号
CN114185811A
公开(公告)日
2022-03-15
发明(设计)人
程江民 韩俊
申请人
申请人地址
100041 北京市石景山区实兴大街30号院3号楼2层B-0035房间
IPC主分类号
G06F1136
IPC分类号
代理机构
北京英创嘉友知识产权代理事务所(普通合伙) 11447
代理人
温易娜
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
测试处理方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
卢振平 .
中国专利 :CN119493728A ,2025-02-21
[2]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
高腾远 ;
薛品龙 ;
王跃辉 ;
李洋 ;
赵印凯 ;
周毅 .
中国专利 :CN119718790A ,2025-03-28
[3]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
刘伟 .
中国专利 :CN118093392A ,2024-05-28
[4]
测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P]. 
綦人杰 .
中国专利 :CN117632758A ,2024-03-01
[5]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
朱捷 .
中国专利 :CN112433935A ,2021-03-02
[6]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
王枫 ;
俞迟 ;
陈永恒 .
中国专利 :CN114168471A ,2022-03-11
[7]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
孙俊楠 ;
任家英 ;
杨红刚 ;
张建伟 .
中国专利 :CN117591412A ,2024-02-23
[8]
测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P]. 
陈铭 ;
王海斌 .
中国专利 :CN120583010A ,2025-09-02
[9]
测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
赵俊阳 ;
王桐 .
:CN113297062B ,2025-03-07
[10]
测试方法及装置、电子设备、存储介质 [P]. 
赵俊阳 ;
王桐 .
中国专利 :CN113297062A ,2021-08-24