集成电路制作过程中冗余金属填充的方法及半导体器件

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201110172941.X
申请日
2011-06-24
公开(公告)号
CN102222643A
公开(公告)日
2011-10-19
发明(设计)人
周隽雄 陈岚 阮文彪 李志刚 王强 叶甜春
申请人
申请人地址
100029 北京市朝阳区北土城西路3号
IPC主分类号
H01L21768
IPC分类号
H01L21321 H01L23522
代理机构
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
周国城
法律状态
授权
国省代码
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共 50 条
[1]
集成电路版图冗余金属填充的方法及集成电路 [P]. 
杨飞 ;
陈岚 ;
阮文彪 ;
李志刚 ;
胡超 ;
马天宇 .
中国专利 :CN102385656A ,2012-03-21
[2]
制作半导体器件的方法、半导体器件和半导体集成电路 [P]. 
朱继光 ;
胡志朋 .
中国专利 :CN111562688B ,2020-08-21
[3]
制作半导体器件的方法、半导体器件和半导体集成电路 [P]. 
朱继光 ;
何来胜 .
中国专利 :CN111562687A ,2020-08-21
[4]
制作半导体器件的方法、半导体器件和半导体集成电路 [P]. 
朱继光 ;
韩建忠 ;
金里 .
中国专利 :CN111596473B ,2020-08-28
[5]
制作半导体器件的方法、半导体器件和半导体集成电路 [P]. 
朱继光 ;
金里 .
中国专利 :CN111580289A ,2020-08-25
[6]
集成电路版图中冗余金属的填充方法 [P]. 
杨飞 ;
陈岚 ;
阮文彪 ;
李志刚 ;
王强 ;
周隽雄 ;
叶甜春 .
中国专利 :CN102456080A ,2012-05-16
[7]
集成电路半导体器件和制造集成电路半导体器件的方法 [P]. 
朴镇成 ;
金台原 ;
高志呟 ;
金东奎 ;
金俞琳 ;
李昇嬉 ;
张胜愚 ;
赵泰雄 ;
卓容奭 .
韩国专利 :CN120614812A ,2025-09-09
[8]
半导体集成电路器件及半导体集成电路器件的制造方法 [P]. 
杉山雅夫 ;
金子义之 ;
近藤由宪 ;
平泽贤齐 .
中国专利 :CN101714525A ,2010-05-26
[9]
半导体集成电路、半导体器件和半导体集成电路的制造方法 [P]. 
加藤清 .
中国专利 :CN1697187B ,2005-11-16
[10]
半导体器件、集成电路及半导体器件的制造方法 [P]. 
A·梅瑟 ;
T·施勒塞尔 ;
T·迈尔 .
中国专利 :CN104465767B ,2015-03-25