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集成电路制作过程中冗余金属填充的方法及半导体器件
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN201110172941.X
申请日
:
2011-06-24
公开(公告)号
:
CN102222643A
公开(公告)日
:
2011-10-19
发明(设计)人
:
周隽雄
陈岚
阮文彪
李志刚
王强
叶甜春
申请人
:
申请人地址
:
100029 北京市朝阳区北土城西路3号
IPC主分类号
:
H01L21768
IPC分类号
:
H01L21321
H01L23522
代理机构
:
中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人
:
周国城
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2014-02-12
授权
授权
2011-10-19
公开
公开
2011-11-30
实质审查的生效
实质审查的生效 号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101145714543 IPC(主分类):H01L 21/768 专利申请号:201110172941X 申请日:20110624
共 50 条
[1]
集成电路版图冗余金属填充的方法及集成电路
[P].
杨飞
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杨飞
;
陈岚
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陈岚
;
阮文彪
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阮文彪
;
李志刚
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李志刚
;
胡超
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胡超
;
马天宇
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马天宇
.
中国专利
:CN102385656A
,2012-03-21
[2]
制作半导体器件的方法、半导体器件和半导体集成电路
[P].
朱继光
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朱继光
;
胡志朋
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胡志朋
.
中国专利
:CN111562688B
,2020-08-21
[3]
制作半导体器件的方法、半导体器件和半导体集成电路
[P].
朱继光
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朱继光
;
何来胜
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何来胜
.
中国专利
:CN111562687A
,2020-08-21
[4]
制作半导体器件的方法、半导体器件和半导体集成电路
[P].
朱继光
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朱继光
;
韩建忠
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韩建忠
;
金里
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金里
.
中国专利
:CN111596473B
,2020-08-28
[5]
制作半导体器件的方法、半导体器件和半导体集成电路
[P].
朱继光
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朱继光
;
金里
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金里
.
中国专利
:CN111580289A
,2020-08-25
[6]
集成电路版图中冗余金属的填充方法
[P].
杨飞
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杨飞
;
陈岚
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陈岚
;
阮文彪
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阮文彪
;
李志刚
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李志刚
;
王强
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王强
;
周隽雄
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周隽雄
;
叶甜春
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叶甜春
.
中国专利
:CN102456080A
,2012-05-16
[7]
集成电路半导体器件和制造集成电路半导体器件的方法
[P].
朴镇成
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
朴镇成
;
金台原
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金台原
;
高志呟
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
高志呟
;
金东奎
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金东奎
;
金俞琳
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
金俞琳
;
李昇嬉
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
李昇嬉
;
张胜愚
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
张胜愚
;
赵泰雄
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三星电子株式会社
三星电子株式会社
赵泰雄
;
卓容奭
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机构:
三星电子株式会社
三星电子株式会社
卓容奭
.
韩国专利
:CN120614812A
,2025-09-09
[8]
半导体集成电路器件及半导体集成电路器件的制造方法
[P].
杉山雅夫
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杉山雅夫
;
金子义之
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金子义之
;
近藤由宪
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近藤由宪
;
平泽贤齐
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平泽贤齐
.
中国专利
:CN101714525A
,2010-05-26
[9]
半导体集成电路、半导体器件和半导体集成电路的制造方法
[P].
加藤清
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加藤清
.
中国专利
:CN1697187B
,2005-11-16
[10]
半导体器件、集成电路及半导体器件的制造方法
[P].
A·梅瑟
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A·梅瑟
;
T·施勒塞尔
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T·施勒塞尔
;
T·迈尔
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T·迈尔
.
中国专利
:CN104465767B
,2015-03-25
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