检测带电粒子的检测装置、检测带电粒子的方法以及质谱仪

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201080049069.3

申请日：

2010-10-18

公开(公告)号：

CN102668017B

公开(公告)日：

2012-09-12

发明(设计)人：

A·马卡洛夫 A·詹纳考普洛斯

申请人：

申请人地址：

德国不来梅

IPC主分类号：

H01J4902

IPC分类号：

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司 31100

代理人：

侯颖媖

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-02-11	授权	授权
2012-09-12	公开	公开
2012-11-07	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101343152879 IPC(主分类):H01J 49/02 专利申请号:2010800490693 申请日:20101018

共 50 条

[1]

检测带电粒子的检测装置、检测带电粒子的方法以及质谱仪 [P].

A·马卡洛夫 ;

A·詹纳考普洛斯 .

中国专利 :CN102782800B ,2012-11-14

[2]

带电粒子检测装置 [P].

汪苏 ;

张旭 ;

陈仲玮 .

中国专利 :CN101929965A ,2010-12-29

[3]

带电粒子检测器 [P].

须山本比吕 ;

小林浩之 ;

服部真也 .

中国专利 :CN107710380B ,2018-02-16

[4]

带电粒子检测器 [P].

A·V·G·曼格努斯 .

:CN117597762A ,2024-02-23

[5]

具有带电粒子检测器的带电粒子显微镜 [P].

E·弗兰肯 ;

T·瓦斯洛特 ;

B·詹森 .

美国专利 :CN120809561A ,2025-10-17

[6]

带电粒子检测器 [P].

A·V·G·曼格努斯 ;

E·斯洛特 .

:CN117597761A ,2024-02-23

[7]

复合带电粒子束检测器、带电粒子束装置以及带电粒子束检测器 [P].

野间口恒典 ;

扬村寿英 .

中国专利 :CN104956461A ,2015-09-30

[8]

带电粒子检测器 [P].

E.克尼德勒 ;

J.H.奥尔洛夫 .

中国专利 :CN103038856B ,2013-04-10

[9]

改进的带电粒子检测器 [P].

W.谢尔斯 ;

R.斯特雷索 ;

K.宏特 .

中国专利 :CN110832615A ,2020-02-21

[10]

制造带电粒子检测器的方法 [P].

B·J·詹森 ;

P·多纳 .

中国专利 :CN112242284A ,2021-01-19

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