一种光学测试系统用测试平台

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201721238937.8

申请日：

2017-09-26

公开(公告)号：

CN207248492U

公开(公告)日：

2018-04-17

发明(设计)人：

邓重明徐德胜

申请人：

申请人地址：

213025 江苏省常州市潞城镇彭家塘桥南堍

IPC主分类号：

G01M1104

IPC分类号：

代理机构：

代理人：

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-09-15	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01M 11/04 申请日:20170926 授权公告日:20180417 终止日期:20190926
2018-04-17	授权	授权

共 50 条

[1]

光学测试系统用测试平台 [P].

袁培武 .

中国专利 :CN210322259U ,2020-04-14

[2]

一种光学测试暗箱和光学测试系统 [P].

艾秋爽 ;

邱素艳 ;

董一帆 ;

俞熙仁 ;

袁丽娟 ;

向建军 ;

张莉 ;

廖且根 ;

叶梦珺 ;

张大文 .

中国专利 :CN220795050U ,2024-04-16

[3]

一种光学测试系统 [P].

王长东 .

中国专利 :CN205879495U ,2017-01-11

[4]

一种光学测试系统 [P].

蒋伟楷 ;

其他发明人请求不公开姓名 .

中国专利 :CN210089983U ,2020-02-18

[5]

光学测试系统 [P].

吴栋颖 ;

杨文献 ;

赵宇坤 ;

李雪飞 ;

陆书龙 .

中国专利 :CN210834097U ,2020-06-23

[6]

一种光学测试系统 [P].

潘建伟 .

中国专利 :CN102798593A ,2012-11-28

[7]

一种光学测试系统 [P].

王长东 .

中国专利 :CN106053028A ,2016-10-26

[8]

一种光学测试系统 [P].

张顺起 ;

陈建强 ;

刘爱江 ;

陈泽海 .

中国专利 :CN111239066A ,2020-06-05

[9]

一种光学测试系统和测试方法 [P].

曹勇 .

中国专利 :CN107884368A ,2018-04-06

[10]

一种光学测试系统及测试方法 [P].

李旭 ;

马洪涛 ;

韩冰 .

中国专利 :CN110460839A ,2019-11-15

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