光学测试系统用测试平台

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201921430587.4

申请日：

2019-08-30

公开(公告)号：

CN210322259U

公开(公告)日：

2020-04-14

发明(设计)人：

袁培武

申请人：

申请人地址：

065300 河北省廊坊市大厂回族自治县智能硬件产业园1期A6楼南

IPC主分类号：

G01M1104

IPC分类号：

G01M1100

代理机构：

北京志霖恒远知识产权代理事务所(普通合伙) 11435

代理人：

韩亚伟

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-04-14	授权	授权

共 50 条

[1]

一种光学测试系统用测试平台 [P].

邓重明 ;

徐德胜 .

中国专利 :CN207248492U ,2018-04-17

[2]

光学测试系统和光学测试方法 [P].

李远益 ;

郎海涛 ;

肖祥元 ;

周陈建 ;

杨佳 .

中国专利 :CN112051034B ,2020-12-08

[3]

光学测试方法及光学测试系统 [P].

李承宗 ;

罗益全 ;

林训鹏 ;

洪志明 .

中国专利 :CN109470159B ,2019-03-15

[4]

光学测试系统 [P].

黄志雷 ;

李丽 ;

王莉 .

中国专利 :CN118549093A ,2024-08-27

[5]

光学测试系统 [P].

李洋 ;

刘宾 ;

贺凌波 ;

黄林 ;

戴付建 ;

赵烈烽 .

中国专利 :CN114815188A ,2022-07-29

[6]

光学测试系统 [P].

吴栋颖 ;

杨文献 ;

赵宇坤 ;

李雪飞 ;

陆书龙 .

中国专利 :CN210834097U ,2020-06-23

[7]

光学测试系统 [P].

李洋 ;

刘宾 ;

贺凌波 ;

黄林 ;

戴付建 ;

赵烈烽 .

中国专利 :CN213934372U ,2021-08-10

[8]

光学测试平台 [P].

官宇 .

中国专利 :CN209945680U ,2020-01-14

[9]

光学测试平台 [P].

雅基·S·扬 ;

格雷戈里·R·梅斯 ;

杰弗里·爱德华·普赖斯 ;

杰克·R·小霍夫曼 ;

克里斯托弗·乔治·克歇尔 ;

杰瑞德·伊恩·布洛克 ;

塞缪尔·B·克兰德尔 ;

沃尔特·J·克莱因斯 .

中国专利 :CN110914672A ,2020-03-24

[10]

一种光学测试暗箱和光学测试系统 [P].

艾秋爽 ;

邱素艳 ;

董一帆 ;

俞熙仁 ;

袁丽娟 ;

向建军 ;

张莉 ;

廖且根 ;

叶梦珺 ;

张大文 .

中国专利 :CN220795050U ,2024-04-16

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