基于二象限探测器的放电等离子体电子密度测量装置与方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201210533905.6

申请日：

2012-12-11

公开(公告)号：

CN103068136A

公开(公告)日：

2013-04-24

发明(设计)人：

杨晨光李斌左都罗王新兵陆培祥唐建徐勇跃刘力

申请人：

申请人地址：

430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号

IPC主分类号：

H05H100

IPC分类号：

代理机构：

华中科技大学专利中心 42201

代理人：

曹葆青

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-01-26	专利权的终止	未缴年费专利权终止 IPC(主分类):H05H 1/00 申请日:20121211 授权公告日:20150819 终止日期:20161211
2013-05-29	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101461531295 IPC(主分类):H05H 1/00 专利申请号:2012105339056 申请日:20121211
2013-04-24	公开	公开
2015-08-19	授权	授权

共 50 条

[1]

激光等离子体电子密度测量方法 [P].

陶华 ;

刘诚 ;

朱健强 .

中国专利 :CN108174503B ,2018-06-15

[2]

一种等离子体电子密度测量装置 [P].

魏学朝 ;

解家兴 ;

刘海庆 ;

张际波 ;

揭银先 .

中国专利 :CN114867178B ,2025-02-18

[3]

一种等离子体电子密度测量装置 [P].

魏学朝 ;

解家兴 ;

刘海庆 ;

张际波 ;

揭银先 .

中国专利 :CN114867178A ,2022-08-05

[4]

基于光纤色散干涉的等离子体电子密度测量装置及方法 [P].

吴坚 ;

赵一鸣 ;

王威 ;

姜志远 ;

王振宇 ;

卢元博 .

中国专利 :CN119403025A ,2025-02-07

[5]

基于激光波前分析的等离子体电子密度测量装置及方法 [P].

吴坚 ;

赵一鸣 ;

王威 ;

姜志远 ;

王振宇 ;

卢元博 .

中国专利 :CN119155874A ,2024-12-17

[6]

基于激光波前分析的等离子体电子密度测量装置及方法 [P].

吴坚 ;

赵一鸣 ;

王威 ;

姜志远 ;

王振宇 ;

卢元博 .

中国专利 :CN119155874B ,2025-09-23

[7]

一种光纤光谱协同放电电流测量等离子体电子密度的方法 [P].

张芝涛 ;

赵建森 ;

俞哲 ;

殷燕 ;

张钰博 .

中国专利 :CN101566501B ,2009-10-28

[8]

一种诊断等离子体电子密度的测量系统和方法 [P].

王海露 ;

李健飞 ;

苗强强 ;

袁承勋 ;

周忠祥 .

中国专利 :CN114205983A ,2022-03-18

[9]

一种诊断等离子体电子密度的测量系统和方法 [P].

王海露 ;

李健飞 ;

苗强强 ;

袁承勋 ;

周忠祥 .

中国专利 :CN114205983B ,2024-05-14

[10]

时变等离子体电子密度抖动频率的测量方法 [P].

谢曜聪 ;

沈方芳 ;

白博文 ;

李小平 ;

陈旭阳 ;

刘彦明 .

中国专利 :CN112153796B ,2020-12-29

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