基于激光波前分析的等离子体电子密度测量装置及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411532365.9

申请日：

2024-10-30

公开(公告)号：

CN119155874B

公开(公告)日：

2025-09-23

发明(设计)人：

吴坚赵一鸣王威姜志远王振宇卢元博

申请人：

西安交通大学

申请人地址：

710049 陕西省西安市碑林区咸宁西路28号

IPC主分类号：

H05H1/00

IPC分类号：

代理机构：

西安通大专利代理有限责任公司 61200

代理人：

从霄汉

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

陕西省西安市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-01-03	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):H05H 1/00申请日:20241030
2025-09-23	授权	授权
2024-12-17	公开	公开

共 50 条

[1]

基于激光波前分析的等离子体电子密度测量装置及方法 [P].

吴坚 ;

赵一鸣 ;

王威 ;

姜志远 ;

王振宇 ;

卢元博 .

中国专利 :CN119155874A ,2024-12-17

[2]

激光等离子体电子密度测量方法 [P].

陶华 ;

刘诚 ;

朱健强 .

中国专利 :CN108174503B ,2018-06-15

[3]

基于光纤色散干涉的等离子体电子密度测量装置及方法 [P].

吴坚 ;

赵一鸣 ;

王威 ;

姜志远 ;

王振宇 ;

卢元博 .

中国专利 :CN119403025A ,2025-02-07

[4]

一种等离子体电子密度测量装置 [P].

魏学朝 ;

解家兴 ;

刘海庆 ;

张际波 ;

揭银先 .

中国专利 :CN114867178B ,2025-02-18

[5]

一种等离子体电子密度测量装置 [P].

魏学朝 ;

解家兴 ;

刘海庆 ;

张际波 ;

揭银先 .

中国专利 :CN114867178A ,2022-08-05

[6]

一种诊断等离子体电子密度的测量系统和方法 [P].

王海露 ;

李健飞 ;

苗强强 ;

袁承勋 ;

周忠祥 .

中国专利 :CN114205983A ,2022-03-18

[7]

一种诊断等离子体电子密度的测量系统和方法 [P].

王海露 ;

李健飞 ;

苗强强 ;

袁承勋 ;

周忠祥 .

中国专利 :CN114205983B ,2024-05-14

[8]

基于二象限探测器的放电等离子体电子密度测量装置与方法 [P].

杨晨光 ;

李斌 ;

左都罗 ;

王新兵 ;

陆培祥 ;

唐建 ;

徐勇跃 ;

刘力 .

中国专利 :CN103068136A ,2013-04-24

[9]

等离子体团电子密度和电子温度空间分布测量装置及方法 [P].

宋伟 ;

张立宪 ;

田兴华 ;

张璐 .

中国专利 :CN118215190A ,2024-06-18

[10]

时变等离子体电子密度抖动频率的测量方法 [P].

谢曜聪 ;

沈方芳 ;

白博文 ;

李小平 ;

陈旭阳 ;

刘彦明 .

中国专利 :CN112153796B ,2020-12-29

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