一种等离子体电子密度测量装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210442832.3

申请日：

2022-04-25

公开(公告)号：

CN114867178B

公开(公告)日：

2025-02-18

发明(设计)人：

魏学朝解家兴刘海庆张际波揭银先

申请人：

中国科学院合肥物质科学研究院

申请人地址：

230031 安徽省合肥市蜀山湖路350号

IPC主分类号：

H05H1/00

IPC分类号：

代理机构：

广州三环专利商标代理有限公司 44202

代理人：

陈旭红

法律状态：

授权

国省代码：

北京市

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法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-02-18	授权	授权

共 50 条

[1]

一种等离子体电子密度测量装置 [P].

魏学朝 ;

解家兴 ;

刘海庆 ;

张际波 ;

揭银先 .

中国专利 :CN114867178A ,2022-08-05

[2]

激光等离子体电子密度测量方法 [P].

陶华 ;

刘诚 ;

朱健强 .

中国专利 :CN108174503B ,2018-06-15

[3]

基于光纤色散干涉的等离子体电子密度测量装置及方法 [P].

吴坚 ;

赵一鸣 ;

王威 ;

姜志远 ;

王振宇 ;

卢元博 .

中国专利 :CN119403025A ,2025-02-07

[4]

一种诊断等离子体电子密度的测量系统和方法 [P].

王海露 ;

李健飞 ;

苗强强 ;

袁承勋 ;

周忠祥 .

中国专利 :CN114205983A ,2022-03-18

[5]

一种诊断等离子体电子密度的测量系统和方法 [P].

王海露 ;

李健飞 ;

苗强强 ;

袁承勋 ;

周忠祥 .

中国专利 :CN114205983B ,2024-05-14

[6]

基于二象限探测器的放电等离子体电子密度测量装置与方法 [P].

杨晨光 ;

李斌 ;

左都罗 ;

王新兵 ;

陆培祥 ;

唐建 ;

徐勇跃 ;

刘力 .

中国专利 :CN103068136A ,2013-04-24

[7]

基于激光波前分析的等离子体电子密度测量装置及方法 [P].

吴坚 ;

赵一鸣 ;

王威 ;

姜志远 ;

王振宇 ;

卢元博 .

中国专利 :CN119155874A ,2024-12-17

[8]

基于激光波前分析的等离子体电子密度测量装置及方法 [P].

吴坚 ;

赵一鸣 ;

王威 ;

姜志远 ;

王振宇 ;

卢元博 .

中国专利 :CN119155874B ,2025-09-23

[9]

一种大气压等离子体电子密度的诊断方法 [P].

倪国华 ;

胡磊 ;

徐少勇 ;

孙坡 ;

阮超波 ;

李淩豪 .

中国专利 :CN114007321A ,2022-02-01

[10]

一种大气压等离子体电子密度的诊断方法 [P].

倪国华 ;

胡磊 ;

徐少勇 ;

孙坡 ;

阮超波 ;

李淩豪 .

中国专利 :CN114007321B ,2024-07-09

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