半导体集成电路的测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200410006806.8

申请日：

2004-02-18

公开(公告)号：

CN1332212C

公开(公告)日：

2005-02-02

发明(设计)人：

鐮野智金光朋彦

申请人：

申请人地址：

日本国大阪府门真市

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

上海专利商标事务所有限公司

代理人：

沈昭坤

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-04-10	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101432517626 IPC(主分类):G01R 31/28 专利号:ZL2004100068068 申请日:20040218 授权公告日:20070815 终止日期:20120218
2005-04-06	实质审查的生效	实质审查的生效
2007-08-15	授权	授权
2005-02-02	公开	公开

共 50 条

[1]

半导体集成电路测试装置及半导体集成电路制造方法 [P].

森长也 ;

船仓辉彦 ;

花井寿佳 .

中国专利 :CN1525187A ,2004-09-01

[2]

半导体集成电路测试系统及其半导体集成电路测试装置 [P].

李炳勋 ;

陈柏玮 ;

叶明昇 ;

施翔文 ;

林士超 .

中国专利 :CN110824330A ,2020-02-21

[3]

半导体集成电路测试装置 [P].

叶山久夫 ;

后藤敏雄 .

中国专利 :CN1218183A ,1999-06-02

[4]

半导体集成电路测试装置 [P].

黑田秀彦 .

中国专利 :CN101995542A ,2011-03-30

[5]

半导体集成电路的测试装置及半导体集成电路的测试方法 [P].

森长也 ;

山田真二 ;

船仓辉彦 .

中国专利 :CN1354503A ,2002-06-19

[6]

半导体集成电路的测试方法和测试装置 [P].

内田炼 .

中国专利 :CN1344940A ,2002-04-17

[7]

缓冲电路、驱动电路、半导体测试装置及半导体集成电路 [P].

松本直木 .

中国专利 :CN1890573B ,2007-01-03

[8]

一种半导体集成电路测试装置 [P].

李美华 .

中国专利 :CN220691000U ,2024-03-29

[9]

一种半导体集成电路的测试装置 [P].

刘静 ;

陈伟 .

中国专利 :CN214334188U ,2021-10-01

[10]

一种半导体集成电路测试装置 [P].

周静 .

中国专利 :CN216051804U ,2022-03-15

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