激光器芯片的自动化测试装置

被引：0

申请号：

CN202210305776.9

申请日：

2021-07-28

公开(公告)号：

CN114675164A

公开(公告)日：

2022-06-28

发明(设计)人：

黄建军吴永红赵山胡海洋

申请人：

申请人地址：

215011 江苏省苏州市高新区湘江路1508号5幢

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01R104 G01R1067

代理机构：

苏州创元专利商标事务所有限公司 32103

代理人：

王健

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-06-28	公开	公开
2022-07-15	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20210728

共 50 条

[1]

激光器芯片的自动化测试装置 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114675164B ,2025-05-13

[2]

芯片自动化测试装置 [P].

张正兵 ;

顾梦甜 ;

吕娟娟 .

中国专利 :CN119575140A ,2025-03-07

[3]

用于激光器芯片的高效测试装置 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN218158210U ,2022-12-27

[4]

激光器芯片的测试装置 [P].

谢少华 ;

陈开帆 ;

胡靖 ;

黄黎明 .

中国专利 :CN209640453U ,2019-11-15

[5]

激光器芯片测试装置和激光器芯片测试方法 [P].

马超 ;

程海兵 ;

黄秋元 ;

周鹏 .

中国专利 :CN114325351A ,2022-04-12

[6]

一种芯片自动化测试装置 [P].

许新颜 .

中国专利 :CN213459696U ,2021-06-15

[7]

自动化芯片测试装置 [P].

彭兴义 .

中国专利 :CN214845616U ,2021-11-23

[8]

激光器芯片的老化测试装置 [P].

黄建军 ;

胡海洋 ;

罗跃浩 .

中国专利 :CN114325297A ,2022-04-12

[9]

激光器芯片的老化测试装置 [P].

黄建军 ;

胡海洋 ;

罗跃浩 .

中国专利 :CN114325297B ,2024-03-22

[10]

激光器芯片的参数测试装置 [P].

范旭东 ;

杨炳雄 ;

范明海 ;

张奇 ;

孙伟杰 ;

李志强 ;

刘婷婷 .

中国专利 :CN218445843U ,2023-02-03

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