激光器芯片的自动化测试装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210305776.9

申请日：

2021-07-28

公开(公告)号：

CN114675164B

公开(公告)日：

2025-05-13

发明(设计)人：

黄建军吴永红赵山胡海洋

申请人：

苏州联讯仪器股份有限公司

申请人地址：

215129 江苏省苏州市苏州高新区湘江路1508号5幢

IPC主分类号：

G01R31/28

IPC分类号：

G01R1/04 G01R1/067

代理机构：

苏州科旭知识产权代理事务所(普通合伙) 32697

代理人：

王健

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-13	授权	授权

共 50 条

[1]

激光器芯片的自动化测试装置 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN114675164A ,2022-06-28

[2]

芯片自动化测试装置 [P].

张正兵 ;

顾梦甜 ;

吕娟娟 .

中国专利 :CN119575140A ,2025-03-07

[3]

用于激光器芯片的高效测试装置 [P].

黄建军 ;

吴永红 ;

赵山 ;

胡海洋 .

中国专利 :CN218158210U ,2022-12-27

[4]

激光器芯片的测试装置 [P].

谢少华 ;

陈开帆 ;

胡靖 ;

黄黎明 .

中国专利 :CN209640453U ,2019-11-15

[5]

激光器芯片测试装置和激光器芯片测试方法 [P].

马超 ;

程海兵 ;

黄秋元 ;

周鹏 .

中国专利 :CN114325351A ,2022-04-12

[6]

一种芯片自动化测试装置 [P].

许新颜 .

中国专利 :CN213459696U ,2021-06-15

[7]

自动化芯片测试装置 [P].

彭兴义 .

中国专利 :CN214845616U ,2021-11-23

[8]

激光器芯片的老化测试装置 [P].

黄建军 ;

胡海洋 ;

罗跃浩 .

中国专利 :CN114325297A ,2022-04-12

[9]

激光器芯片的老化测试装置 [P].

黄建军 ;

胡海洋 ;

罗跃浩 .

中国专利 :CN114325297B ,2024-03-22

[10]

激光器芯片的参数测试装置 [P].

范旭东 ;

杨炳雄 ;

范明海 ;

张奇 ;

孙伟杰 ;

李志强 ;

刘婷婷 .

中国专利 :CN218445843U ,2023-02-03

← 1 2 3 4 5 →