一种用于集成电路检测的预处理装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201610708164.9
申请日
2016-08-23
公开(公告)号
CN106323984A
公开(公告)日
2017-01-11
发明(设计)人
王文庆
申请人
申请人地址
523000 广东省东莞市南城区元美路华凯广场A1112
IPC主分类号
G01N2188
IPC分类号
G01N2101 B65G4774
代理机构
北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246
代理人
连平
法律状态
专利申请权、专利权的转移
国省代码
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共 50 条
[1]
一种应用于集成电路检测的筛选装置 [P]. 
王文庆 .
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[2]
一种集成电路检测机 [P]. 
白湖正 ;
孙承民 .
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[3]
集成电路检测装置 [P]. 
周文进 ;
陈峰 .
中国专利 :CN101165476B ,2008-04-23
[4]
一种新型集成电路检测装置 [P]. 
蔡冬燕 .
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[5]
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孙刚 ;
郑金国 ;
朱方园 ;
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[6]
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马春游 .
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[7]
一种集成电路检测平台 [P]. 
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[8]
一种集成电路检测机 [P]. 
马春游 .
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[9]
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[10]
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