一种激光自混频纳米颗粒粒径分布快速测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410734409.6

申请日：

2014-12-04

公开(公告)号：

CN104458514A

公开(公告)日：

2015-03-25

发明(设计)人：

王华睿沈建琪蔡小舒

申请人：

申请人地址：

221116 江苏省徐州市铜山新区上海路101号

IPC主分类号：

G01N1502

IPC分类号：

代理机构：

北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350

代理人：

汤东凤

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-03-25	公开	公开
2018-03-13	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回 IPC(主分类):G01N 15/02 申请公布日:20150325
2015-11-11	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101632903226 IPC(主分类):G01N 15/02 专利申请号:2014107344096 申请日:20141204

共 50 条

[1]

金属纳米颗粒粒径的测量方法 [P].

白本锋 ;

肖晓飞 .

中国专利 :CN105092433A ,2015-11-25

[2]

单个纳米颗粒粒径的测量方法 [P].

白本锋 ;

肖晓飞 .

中国专利 :CN105115864A ,2015-12-02

[3]

一种颗粒粒径分布的测量方法 [P].

左剑恶 ;

李建平 .

中国专利 :CN1696654A ,2005-11-16

[4]

一种纳米颗粒粒径的测量方法及其测量系统 [P].

岳成凤 ;

唐志列 ;

韩鹏 ;

彭力 ;

吴泳波 .

中国专利 :CN105510192A ,2016-04-20

[5]

单个纳米颗粒粒径的测量系统及测量方法 [P].

白本锋 ;

肖晓飞 .

中国专利 :CN105043948A ,2015-11-11

[6]

单个纳米颗粒粒径的测量系统及测量方法 [P].

白本锋 ;

肖晓飞 .

中国专利 :CN105115866B ,2015-12-02

[7]

高浓度纳米颗粒粒径的测量方法及其检测装置 [P].

李绍新 ;

王永东 ;

张延娇 ;

黎国锋 .

中国专利 :CN101762441A ,2010-06-30

[8]

一种基于光散射的纳米颗粒粒径测量方法和系统 [P].

黄梅珍 ;

王丹阳 ;

蓝天朔 ;

刘天元 ;

于新娜 ;

徐雪茹 .

中国专利 :CN120314160A ,2025-07-15

[9]

一种纳米颗粒粒径测量装置及方法 [P].

杨晖 ;

郑刚 ;

张仁杰 ;

李孟超 ;

孔平 .

中国专利 :CN101571470A ,2009-11-04

[10]

测量颗粒粒径分布的方法及装置 [P].

杨福桂 ;

王秋实 ;

李明 ;

盛伟繁 .

中国专利 :CN103983546A ,2014-08-13

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