一种同时测量光学元件反射透射畸变差的方法及装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110330561.8

申请日：

2021-03-29

公开(公告)号：

CN112710455A

公开(公告)日：

2021-04-27

发明(设计)人：

韩凯许中杰刘泽琳崔文达黄汉长宋长青

申请人：

申请人地址：

410073 湖南省长沙市开福区德雅路109号

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

G01N2195 G01B1116

代理机构：

长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225

代理人：

邱轶

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-04-27	公开	公开
2021-05-14	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20210329
2021-06-04	授权	授权

共 50 条

[1]

光学元件透射光谱自动面扫描测量装置和方法 [P].

朱美萍 ;

范正修 ;

易葵 .

中国专利 :CN101387551A ,2009-03-18

[2]

一种光学元件透射反射率测量仪 [P].

贾宝申 ;

吕海兵 ;

苗心向 ;

周国瑞 ;

牛龙飞 ;

刘昊 ;

邹睿 ;

李可欣 .

中国专利 :CN105510005A ,2016-04-20

[3]

一种光学元件透射反射率测量仪 [P].

贾宝申 ;

吕海兵 ;

苗心向 ;

周国瑞 ;

牛龙飞 ;

刘昊 ;

邹睿 ;

李可欣 .

中国专利 :CN205374010U ,2016-07-06

[4]

透射反射快速切换的光学测量装置 [P].

刘海云 ;

谷鹏 ;

熊启华 .

中国专利 :CN115308165A ,2022-11-08

[5]

光学元件多点透射反射率光谱测量装置 [P].

宋光均 ;

罗海涛 ;

蒋之辉 .

中国专利 :CN214374295U ,2021-10-08

[6]

一种光学元件高透射率高反射率测量装置及测量方法 [P].

陈坚 ;

吴周令 .

中国专利 :CN113483996A ,2021-10-08

[7]

一种同时测量高反射/高透射光学元件的反射率、透过率、散射损耗和吸收损耗的方法 [P].

李斌成 ;

崔浩 ;

王静 ;

高椿明 .

中国专利 :CN107132029A ,2017-09-05

[8]

一种光学元件透射损耗测量方法 [P].

李斌成 ;

曲哲超 ;

韩艳玲 .

中国专利 :CN101995328A ,2011-03-30

[9]

一种光学元件高透射率高反射率测量装置 [P].

陈坚 ;

吴周令 .

中国专利 :CN215893966U ,2022-02-22

[10]

一种基于透射式光学元件波前畸变的评估方法、系统、设备及介质 [P].

罗先刚 ;

刘洋 ;

蒲明博 ;

王茂宇 ;

牛学飞 .

中国专利 :CN119901462A ,2025-04-29

← 1 2 3 4 5 →