光学元件透射光谱自动面扫描测量装置和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200810202062.5

申请日：

2008-10-31

公开(公告)号：

CN101387551A

公开(公告)日：

2009-03-18

发明(设计)人：

朱美萍范正修易葵

申请人：

申请人地址：

201800上海市800-211邮政信箱

IPC主分类号：

G01J328

IPC分类号：

G01M1102

代理机构：

上海新天专利代理有限公司

代理人：

张泽纯

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2009-05-13	实质审查的生效	实质审查的生效
2011-01-05	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101058492466 IPC(主分类):G01J 3/28 专利申请号:2008102020625 公开日:20090318
2009-03-18	公开	公开

共 50 条

[1]

光学元件透射光谱自动面扫描测量装置 [P].

朱美萍 ;

范正修 ;

易葵 .

中国专利 :CN201322684Y ,2009-10-07

[2]

光学元件多点透射反射率光谱测量装置 [P].

宋光均 ;

罗海涛 ;

蒋之辉 .

中国专利 :CN214374295U ,2021-10-08

[3]

光学元件测量装置和测量方法 [P].

张玉奇 ;

王江峰 ;

黄文发 ;

彭宇杰 ;

乔治 ;

蒋志龙 .

中国专利 :CN103884489B ,2014-06-25

[4]

Z扫描光学非线性测量装置和测量方法 [P].

蔡晓林 ;

魏劲松 .

中国专利 :CN102937573A ,2013-02-20

[5]

球面光学元件光谱反射率测量装置 [P].

姚建政 ;

钟汉民 ;

罗新华 .

中国专利 :CN201016840Y ,2008-02-06

[6]

球面光学元件光谱反射率测量装置及方法 [P].

姚建政 ;

钟汉民 ;

罗新华 .

中国专利 :CN1995944A ,2007-07-11

[7]

光学元件、光谱测定的测量装置和用于光谱地分析介质的方法 [P].

E.鲍姆加特 .

中国专利 :CN110018125A ,2019-07-16

[8]

大尺寸光学元件透射率和反射率测量装置 [P].

胡永明 ;

陈哲 ;

常胜利 ;

孟洲 ;

韩泽 .

中国专利 :CN2338738Y ,1999-09-15

[9]

一种同时测量光学元件反射透射畸变差的方法及装置 [P].

韩凯 ;

许中杰 ;

刘泽琳 ;

崔文达 ;

黄汉长 ;

宋长青 .

中国专利 :CN112710455A ,2021-04-27

[10]

透射型光学元件分层相位成像的装置和方法 [P].

王海燕 ;

刘诚 ;

潘兴臣 ;

孙美智 ;

程君 ;

朱健强 .

中国专利 :CN103837325A ,2014-06-04

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