透射型光学元件分层相位成像的装置和方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201410064172.5

申请日：

2014-02-25

公开(公告)号：

CN103837325A

公开(公告)日：

2014-06-04

发明(设计)人：

王海燕刘诚潘兴臣孙美智程君朱健强

申请人：

申请人地址：

201800 上海市嘉定区800－211邮政信箱

IPC主分类号：

G01M1100

IPC分类号：

代理机构：

上海新天专利代理有限公司 31213

代理人：

张泽纯

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2014-07-02	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101583367568 IPC(主分类):G01M 11/00 专利申请号:2014100641725 申请日:20140225
2014-06-04	公开	公开
2016-06-08	授权	授权

共 50 条

[1]

透射型样品振幅和相位成像装置和方法 [P].

潘兴臣 ;

刘诚 ;

朱健强 .

中国专利 :CN102866133A ,2013-01-09

[2]

透射型大口径元件相位测量装置和测量方法 [P].

王海燕 ;

刘诚 ;

潘兴臣 ;

程君 ;

孙美智 ;

朱健强 .

中国专利 :CN103499429A ,2014-01-08

[3]

用于制造光学元件的装置和方法、光学元件和成像装置 [P].

安藤正树 .

中国专利 :CN101791836B ,2010-08-04

[4]

透射型光学元件的制造方法 [P].

荒井邦仁 ;

泽口太一 ;

伊藤敬志 .

中国专利 :CN113811433A ,2021-12-17

[5]

透射型样品相位显微装置和相位显微方法 [P].

潘兴臣 ;

刘诚 ;

朱健强 .

中国专利 :CN102645739A ,2012-08-22

[6]

基于波前调制的相位成像及元件检测的装置和方法 [P].

潘兴臣 ;

刘诚 ;

朱健强 .

中国专利 :CN112683794A ,2021-04-20

[7]

光学元件和包含光学元件的成像光学元件 [P].

斯特芬·赖歇尔 ;

沃尔弗拉姆·拜尔 ;

弗兰克－托马斯·伦特斯 ;

冈野吉雄 ;

约亨·阿尔克姆佩尔 ;

若泽·齐默尔 ;

约瑟夫·S·海登 ;

卡斯滕·温霍尔德 ;

乌尔里希·波伊切尔特 ;

马丁·莱茨 .

中国专利 :CN101097262A ,2008-01-02

[8]

光学元件和成像装置 [P].

大石忠宏 ;

田中敬太 ;

安藤正树 ;

田中和洋 .

中国专利 :CN101046554A ,2007-10-03

[9]

光学元件和成像装置 [P].

高塚进 ;

井手直纪 ;

上野比吕至 ;

铁川弘树 .

日本专利 :CN120814242A ,2025-10-17

[10]

光学元件和成像装置 [P].

光田幸宽 ;

佐野幸广 ;

海部敬太 ;

田中和洋 .

中国专利 :CN101685172A ,2010-03-31

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