光学元件透射光谱自动面扫描测量装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN200820155743.6

申请日：

2008-11-21

公开(公告)号：

CN201322684Y

公开(公告)日：

2009-10-07

发明(设计)人：

朱美萍范正修易葵

申请人：

申请人地址：

201800上海市800-211邮政信箱

IPC主分类号：

G01M1102

IPC分类号：

G01J328

代理机构：

上海新天专利代理有限公司

代理人：

张泽纯

法律状态：

专利权的终止

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2013-01-23	专利权的终止	未缴年费专利权终止号牌文件类型代码:1605 号牌文件序号:101386317723 IPC(主分类):G01M 11/02 专利号:ZL2008201557436 申请日:20081121 授权公告日:20091007 终止日期:20111121
2009-10-07	授权	授权

共 50 条

[1]

光学元件透射光谱自动面扫描测量装置和方法 [P].

朱美萍 ;

范正修 ;

易葵 .

中国专利 :CN101387551A ,2009-03-18

[2]

光学元件多点透射反射率光谱测量装置 [P].

宋光均 ;

罗海涛 ;

蒋之辉 .

中国专利 :CN214374295U ,2021-10-08

[3]

球面光学元件光谱反射率测量装置 [P].

姚建政 ;

钟汉民 ;

罗新华 .

中国专利 :CN201016840Y ,2008-02-06

[4]

光学元件缺陷扫描装置 [P].

范星诺 ;

李学春 ;

范薇 ;

姜有恩 ;

梁龙 .

中国专利 :CN103217437A ,2013-07-24

[5]

球面光学元件光谱反射率测量装置及方法 [P].

姚建政 ;

钟汉民 ;

罗新华 .

中国专利 :CN1995944A ,2007-07-11

[6]

光学腔、加热腔、测量装置及液体介质透射光谱测量系统 [P].

徐超 ;

林建清 ;

巨星 ;

柳华蔚 ;

李文志 .

中国专利 :CN113008838A ,2021-06-22

[7]

超窄带滤光片的透射率光谱测量装置 [P].

马小凤 ;

刘定权 ;

王曙光 ;

蔡清元 ;

陈刚 ;

张莉 ;

朱佳琳 .

中国专利 :CN204165650U ,2015-02-18

[8]

一种同时测量光学元件反射透射畸变差的方法及装置 [P].

韩凯 ;

许中杰 ;

刘泽琳 ;

崔文达 ;

黄汉长 ;

宋长青 .

中国专利 :CN112710455A ,2021-04-27

[9]

测量系统及其光学元件 [P].

邓文平 ;

赵辉 .

中国专利 :CN205103153U ,2016-03-23

[10]

测量系统及其光学元件 [P].

邓文平 ;

赵辉 .

中国专利 :CN105223149A ,2016-01-06

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