光学元件缺陷扫描装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201310080269.0

申请日：

2013-03-13

公开(公告)号：

CN103217437A

公开(公告)日：

2013-07-24

发明(设计)人：

范星诺李学春范薇姜有恩梁龙

申请人：

申请人地址：

201800 上海市嘉定区800－211邮政信箱

IPC主分类号：

G01N2188

IPC分类号：

G01N21958

代理机构：

上海新天专利代理有限公司 31213

代理人：

张泽纯

法律状态：

发明专利申请公布后的视为撤回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2015-08-26	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101719807705 IPC(主分类):G01N 21/88 专利申请号:2013100802690 申请公布日:20130724
2013-07-24	公开	公开
2013-08-21	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101509128833 IPC(主分类):G01N 21/88 专利申请号:2013100802690 申请日:20130313

共 50 条

[1]

光学元件以及光扫描装置 [P].

井口卓郎 .

中国专利 :CN112558289A ,2021-03-26

[2]

光学元件以及光扫描装置 [P].

井口卓郎 .

中国专利 :CN112649936A ,2021-04-13

[3]

用于光学元件位相缺陷检测的线扫描相微分成像装置 [P].

陈凤东 ;

甘雨 ;

刘炳国 ;

庄志涛 ;

刘国栋 .

中国专利 :CN103389311A ,2013-11-13

[4]

光学元件、光扫描装置、光学元件制造方法及成形用模具 [P].

内藤笃 ;

高木宽司 ;

原新一朗 ;

真岛利行 ;

金子直树 ;

荒川隆生 .

中国专利 :CN104136192A ,2014-11-05

[5]

光学元件表面缺陷筛查装置和筛查方法 [P].

梁龙 ;

李学春 ;

姜有恩 ;

林圆圆 ;

陈醉雨 .

中国专利 :CN103760173B ,2014-04-30

[6]

光学元件联接装置及光学扫描设备 [P].

卓庆模 .

中国专利 :CN101334527A ,2008-12-31

[7]

光学元件,光学扫描装置,以及成像设备 [P].

木村友纪 ;

林英一 ;

山中康生 .

中国专利 :CN101126819B ,2008-02-20

[8]

光学元件透射光谱自动面扫描测量装置 [P].

朱美萍 ;

范正修 ;

易葵 .

中国专利 :CN201322684Y ,2009-10-07

[9]

一种光学元件光学表面面形扫描用位移台 [P].

杨向通 ;

冯鹰 .

中国专利 :CN213985023U ,2021-08-17

[10]

光学元件位相型缺陷测量装置 [P].

李杰 ;

许乔 ;

李亚国 ;

巴荣声 ;

张霖 ;

周信达 ;

郑垠波 ;

丁磊 ;

柴立群 .

中国专利 :CN208705241U ,2019-04-05

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