MTS通用总线集成电路测试系统

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201020284785.7

申请日：

2010-08-06

公开(公告)号：

CN201796117U

公开(公告)日：

2011-04-13

发明(设计)人：

张书恒

申请人：

申请人地址：

200001 上海市北京东路666号B区604室

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260

代理人：

卢刚

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-05-19	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01R 31/28 登记生效日:20200428 变更事项:专利权人变更前权利人:上海宏测半导体科技有限公司变更后权利人:南京宏泰半导体科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:200001 上海市北京东路666号B区604室变更后权利人:210000 江苏省南京市浦口区江浦街道浦滨大道320号科创广场科创总部大厦B座24楼
2011-04-13	授权	授权
2020-09-01	专利权的终止	专利权有效期届满 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20100806 授权公告日:20110413

共 50 条

[1]

FLEX二级总线集成电路测试系统 [P].

毛国梁 ;

马劼 .

中国专利 :CN203133818U ,2013-08-14

[2]

集成电路测试系统 [P].

叶剑文 .

中国专利 :CN207799022U ,2018-08-31

[3]

集成电路测试系统 [P].

祁俊华 .

中国专利 :CN207798988U ,2018-08-31

[4]

一种基于PXIe总线的集成电路测试系统 [P].

乔宏志 ;

张海庆 ;

徐宝令 ;

阎涛 ;

丁志钊 ;

王亚海 .

中国专利 :CN112067979A ,2020-12-11

[5]

集成电路的测试系统 [P].

连高城 ;

叶剑文 ;

赵静一 .

中国专利 :CN208607321U ,2019-03-15

[6]

集成电路测试方法和集成电路测试系统 [P].

张晓磊 .

中国专利 :CN114264936A ,2022-04-01

[7]

集成电路测试系统 [P].

张悦 .

中国专利 :CN210007709U ,2020-01-31

[8]

集成电路测试系统 [P].

祁俊华 .

中国专利 :CN108107309A ,2018-06-01

[9]

集成电路测试系统 [P].

叶剑文 .

中国专利 :CN203909236U ,2014-10-29

[10]

集成电路测试系统 [P].

林益民 .

中国专利 :CN1611957A ,2005-05-04

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