一种半导体激光器芯片的测试系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710050990.3

申请日：

2017-01-20

公开(公告)号：

CN106597264A

公开(公告)日：

2017-04-26

发明(设计)人：

胡海刘文斌王泰山李成鹏方继林

申请人：

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区高新技术工业村

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280

代理人：

何青瓦

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2017-05-24	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101721570474 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2017100509903 申请日:20170120
2017-04-26	公开	公开

共 50 条

[1]

一种半导体激光器芯片的测试系统 [P].

胡海 ;

刘文斌 ;

王泰山 ;

李成鹏 ;

方继林 .

中国专利 :CN206546412U ,2017-10-10

[2]

一种半导体激光器芯片的测试系统 [P].

胡海 ;

刘文斌 ;

王泰山 ;

李成鹏 ;

方继林 .

中国专利 :CN106597263A ,2017-04-26

[3]

一种半导体激光器芯片的测试系统 [P].

胡海 ;

刘文斌 ;

王泰山 ;

李成鹏 ;

方继林 .

中国专利 :CN206546413U ,2017-10-10

[4]

一种半导体激光器芯片测试系统及方法 [P].

李万军 ;

王远红 ;

李鸿建 .

中国专利 :CN116946712B ,2025-12-12

[5]

半导体激光器芯片 [P].

川上俊之 .

日本专利 :CN120642159A ,2025-09-12

[6]

半导体激光器测试系统 [P].

刘兴胜 ;

刘晖 ;

王昊 .

中国专利 :CN303490424S ,2015-12-09

[7]

半导体激光器测试系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN104880298B ,2015-09-02

[8]

半导体激光器测试系统 [P].

张丽雯 ;

陆耀东 ;

王涛 ;

任奕奕 ;

宋金鹏 ;

张玉莹 .

中国专利 :CN204666336U ,2015-09-23

[9]

半导体激光器的测试系统 [P].

钟绪浪 ;

朱宝华 ;

王瑾 ;

陆业钊 ;

高云峰 .

中国专利 :CN106679937A ,2017-05-17

[10]

一种基于labview的半导体激光器芯片的测试系统 [P].

李志平 ;

李林森 ;

张松林 ;

周君君 .

中国专利 :CN105044582A ,2015-11-11

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