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一种基于机器视觉的芯片表面缺陷检测装置及其检测方法

被引：0
申请号：
CN202211403465.2
申请日：
2022-11-09
公开(公告)号：
CN115615924A
公开(公告)日：
2023-01-17
发明(设计)人：
刘炎 胡翔
申请人：
申请人地址：
518000 广东省深圳市龙华区民治街道新牛社区民治大道牛栏前大厦A1014
IPC主分类号：
G01N2115
IPC分类号：
G01N2188
代理机构：
深圳市深联知识产权代理事务所(普通合伙) 44357
代理人：
黄立强
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2023-01-17 公开 公开
2023-02-10 实质审查的生效 实质审查的生效 IPC(主分类):G01N 21/15 申请日:20221109
共 50 条
[1]
一种基于机器视觉的表面缺陷检测装置及其检测方法 [P]. 
罗芳 ;
张志亮 ;
王小红 ;
张伟雄 ;
刘英 .
中国专利 :CN113145498B ,2021-07-23
[2]
一种芯片表面缺陷检测装置 [P]. 
曾省金 ;
杨惠雄 .
中国专利 :CN216696114U ,2022-06-07
[3]
一种芯片表面缺陷检测方法 [P]. 
李春啸 .
中国专利 :CN119477834A ,2025-02-18
[4]
基于机器视觉的钢板表面缺陷检测装置 [P]. 
夏风顺 ;
张超 ;
施振新 .
中国专利 :CN120468172A ,2025-08-12
[5]
基于机器视觉技术的多方向纸托表面缺陷检测装置及其检测方法 [P]. 
梁建芳 .
中国专利 :CN118961582A ,2024-11-15
[6]
基于机器视觉的表面缺陷检测装置 [P]. 
程俊 ;
姜军 ;
卢宗庆 ;
王肇 ;
李坡 .
中国专利 :CN202330294U ,2012-07-11
[7]
一种芯片表面缺陷检测装置及方法 [P]. 
孙海浪 ;
贺苗苗 ;
王超 .
中国专利 :CN120404777A ,2025-08-01
[8]
一种芯片表面缺陷检测方法和装置 [P]. 
周许超 ;
张凯 ;
熊超 ;
杨霖 .
中国专利 :CN114170165A ,2022-03-11
[9]
一种芯片表面缺陷视觉检测方法及系统 [P]. 
向德秋 ;
王胜玉 .
中国专利 :CN120746995A ,2025-10-03
[10]
基于机器视觉的真皮表面缺陷检测系统及其检测方法 [P]. 
李翔 ;
张少龙 ;
李少飞 .
中国专利 :CN105973912A ,2016-09-28
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