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一种雪崩能量测试及热阻测试的组合切换电路
被引:0
专利类型
:
实用新型
申请号
:
CN202122265051.5
申请日
:
2021-09-13
公开(公告)号
:
CN215728603U
公开(公告)日
:
2022-02-01
发明(设计)人
:
杨明涛
严地茂
申请人
:
申请人地址
:
518103 广东省深圳市宝安区福海街道桥头社区福海信息港A7栋409
IPC主分类号
:
G01R3126
IPC分类号
:
G01R2708
代理机构
:
成都三诚知识产权代理事务所(普通合伙) 51251
代理人
:
饶振浪
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-02-01
授权
授权
共 50 条
[1]
一种瞬态热阻测试电路
[P].
周鹏
论文数:
0
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0
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0
周鹏
;
孙衍翀
论文数:
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0
孙衍翀
.
中国专利
:CN210442473U
,2020-05-01
[2]
一种功率器件的雪崩能量测试电路及测试方法
[P].
辛振
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机构:
河北工业大学
河北工业大学
辛振
;
连豪
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机构:
河北工业大学
河北工业大学
连豪
;
康建龙
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机构:
河北工业大学
河北工业大学
康建龙
;
焦超群
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机构:
河北工业大学
河北工业大学
焦超群
;
明磊
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机构:
河北工业大学
河北工业大学
明磊
.
中国专利
:CN119199446A
,2024-12-27
[3]
一种测试功率半导体雪崩能量及热阻分层的设备
[P].
杨明涛
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杨明涛
;
严地茂
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严地茂
.
中国专利
:CN212723200U
,2021-03-16
[4]
雪崩能量测试系统及测试方法
[P].
朱仁强
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机构:
华润微电子(重庆)有限公司
华润微电子(重庆)有限公司
朱仁强
;
谢果
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机构:
华润微电子(重庆)有限公司
华润微电子(重庆)有限公司
谢果
;
杨治宇
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机构:
华润微电子(重庆)有限公司
华润微电子(重庆)有限公司
杨治宇
;
陈国川
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机构:
华润微电子(重庆)有限公司
华润微电子(重庆)有限公司
陈国川
;
张青青
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机构:
华润微电子(重庆)有限公司
华润微电子(重庆)有限公司
张青青
.
中国专利
:CN119936597A
,2025-05-06
[5]
热阻测试方法和热阻测试电路
[P].
王宏跃
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
王宏跃
;
论文数:
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机构:
贺致远
;
陈媛
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈媛
;
陈义强
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈义强
;
路国光
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
路国光
.
中国专利
:CN117706317A
,2024-03-15
[6]
一种瞬态热阻测试电路
[P].
王煜
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王煜
.
中国专利
:CN212586493U
,2021-02-23
[7]
一种瞬态热阻测试电路
[P].
周鹏
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周鹏
;
孙衍翀
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0
孙衍翀
.
中国专利
:CN110244211A
,2019-09-17
[8]
一种瞬态热阻测试电路
[P].
周鹏
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0
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机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
周鹏
;
孙衍翀
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0
机构:
北京华峰测控技术股份有限公司
北京华峰测控技术股份有限公司
孙衍翀
.
中国专利
:CN110244211B
,2024-04-30
[9]
热阻测试方法和热阻测试电路
[P].
王宏跃
论文数:
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
王宏跃
;
论文数:
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机构:
贺致远
;
陈媛
论文数:
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈媛
;
陈义强
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0
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
陈义强
;
路国光
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0
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机构:
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
路国光
.
中国专利
:CN117706317B
,2024-05-28
[10]
一种能双向测试的雪崩测试电路
[P].
周鹏
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0
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0
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周鹏
;
陈跃俊
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陈跃俊
;
郝瑞庭
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0
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郝瑞庭
.
中国专利
:CN206331079U
,2017-07-14
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