一种倒装LED芯片的光电性能测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201820889141.7

申请日：

2018-06-08

公开(公告)号：

CN208207150U

公开(公告)日：

2018-12-07

发明(设计)人：

王淑琴

申请人：

申请人地址：

313000 浙江省湖州市湖州经济技术开发区赛格数码城2幢湖州靖源信息技术有限公司

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

G01M1102

代理机构：

北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246

代理人：

郭晓凤

法律状态：

专利申请权、专利权的转移

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-10-02	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01R 31/28 登记生效日:20200911 变更事项:专利权人变更前权利人:浙江昀光显示科技有限公司变更后权利人:上海锐像信息科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:314000 浙江省嘉兴市嘉善县惠民街道世纪东路18号2号楼1层变更后权利人:200072 上海市静安区广中路805、851号2幢515室
2019-10-22	专利申请权、专利权的转移	专利权的转移 IPC(主分类):G01R 31/28 登记生效日:20190927 变更事项:专利权人变更前权利人:湖州靖源信息技术有限公司变更后权利人:浙江昀光显示科技有限公司变更事项:地址变更前权利人:313000 浙江省湖州市湖州经济技术开发区赛格数码城2幢湖州靖源信息技术有限公司变更后权利人:314000 浙江省嘉兴市嘉善县惠民街道世纪东路18号2号楼1层
2018-12-07	授权	授权

共 50 条

[1]

一种倒装LED芯片的光电性能测试装置 [P].

王淑琴 .

中国专利 :CN108828433A ,2018-11-16

[2]

一种倒装LED芯片光电性能测试装置 [P].

李龙 ;

张文杰 .

中国专利 :CN205103368U ,2016-03-23

[3]

一种倒装LED芯片测试装置 [P].

刘志刚 ;

胡丰森 ;

王敏 ;

江玮 ;

饶奋明 .

中国专利 :CN113324738B ,2024-02-13

[4]

一种倒装LED芯片测试装置 [P].

刘志刚 ;

胡丰森 ;

王敏 ;

江玮 ;

饶奋明 .

中国专利 :CN113324738A ,2021-08-31

[5]

一种光电性能测试装置 [P].

何亚萍 ;

翟云会 ;

屈颖娟 ;

吴雪梅 ;

宋瑞娟 .

中国专利 :CN216208774U ,2022-04-05

[6]

一种倒装LED芯片收光测试机 [P].

王淑琴 .

中国专利 :CN108414914A ,2018-08-17

[7]

一种倒装LED芯片收光测试机 [P].

王淑琴 .

中国专利 :CN208188267U ,2018-12-04

[8]

一种二极管芯片光电性能测试装置 [P].

陈俊 ;

卢家培 ;

张道良 .

中国专利 :CN221811836U ,2024-10-08

[9]

一种指纹芯片电性能测试装置 [P].

韩笑 ;

陈思乡 ;

姜传力 ;

翁水才 ;

鲍军其 ;

谢周阳 ;

刘治震 ;

章华荣 .

中国专利 :CN207703978U ,2018-08-07

[10]

一种陀螺仪的光电性能测试装置 [P].

吴松延 ;

马敏 ;

尹屹 ;

何小辉 ;

田滢紫 ;

赵鹏程 ;

彭育林 ;

陶浪舟 ;

杨钊 ;

付钦月 ;

傅家辉 ;

莫凎超 ;

王敏辉 .

中国专利 :CN223581043U ,2025-11-21

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