一种倒装LED芯片测试装置

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110611887.8
申请日
2021-06-02
公开(公告)号
CN113324738A
公开(公告)日
2021-08-31
发明(设计)人
刘志刚 胡丰森 王敏 江玮 饶奋明
申请人
申请人地址
518000 广东省深圳市坪山新区大工业区聚龙山3号路
IPC主分类号
G01M1102
IPC分类号
代理机构
深圳市查策知识产权代理事务所(普通合伙) 44527
代理人
曾令安
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种倒装LED芯片测试装置 [P]. 
刘志刚 ;
胡丰森 ;
王敏 ;
江玮 ;
饶奋明 .
中国专利 :CN113324738B ,2024-02-13
[2]
一种芯片测试装置 [P]. 
黄哲尔 ;
沈义明 ;
韦宗专 .
中国专利 :CN215575510U ,2022-01-18
[3]
一种倒装LED芯片光电性能测试装置 [P]. 
李龙 ;
张文杰 .
中国专利 :CN205103368U ,2016-03-23
[4]
一种倒装LED芯片的光电性能测试装置 [P]. 
王淑琴 .
中国专利 :CN208207150U ,2018-12-07
[5]
一种倒装LED芯片的光电性能测试装置 [P]. 
王淑琴 .
中国专利 :CN108828433A ,2018-11-16
[6]
一种芯片测试装置 [P]. 
余永庆 ;
唐章海 ;
王伟 .
中国专利 :CN217846551U ,2022-11-18
[7]
一种芯片测试装置 [P]. 
冯国淇 ;
覃宗鹏 .
中国专利 :CN221993589U ,2024-11-12
[8]
一种芯片测试装置 [P]. 
何士龙 .
中国专利 :CN213398652U ,2021-06-08
[9]
一种芯片测试装置 [P]. 
姜磊 ;
刘敬伟 ;
仝飞 .
中国专利 :CN209728113U ,2019-12-03
[10]
一种芯片测试装置 [P]. 
李明 ;
郭晓旭 ;
樊晓华 ;
边海波 .
中国专利 :CN217360170U ,2022-09-02