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一种倒装LED芯片测试装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202110611887.8
申请日
:
2021-06-02
公开(公告)号
:
CN113324738A
公开(公告)日
:
2021-08-31
发明(设计)人
:
刘志刚
胡丰森
王敏
江玮
饶奋明
申请人
:
申请人地址
:
518000 广东省深圳市坪山新区大工业区聚龙山3号路
IPC主分类号
:
G01M1102
IPC分类号
:
代理机构
:
深圳市查策知识产权代理事务所(普通合伙) 44527
代理人
:
曾令安
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2021-08-31
公开
公开
2021-09-17
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01M 11/02 申请日:20210602
共 50 条
[1]
一种倒装LED芯片测试装置
[P].
刘志刚
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市长方集团股份有限公司
深圳市长方集团股份有限公司
刘志刚
;
胡丰森
论文数:
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0
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机构:
深圳市长方集团股份有限公司
深圳市长方集团股份有限公司
胡丰森
;
王敏
论文数:
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0
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0
机构:
深圳市长方集团股份有限公司
深圳市长方集团股份有限公司
王敏
;
论文数:
引用数:
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机构:
江玮
;
饶奋明
论文数:
0
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0
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0
机构:
深圳市长方集团股份有限公司
深圳市长方集团股份有限公司
饶奋明
.
中国专利
:CN113324738B
,2024-02-13
[2]
一种芯片测试装置
[P].
黄哲尔
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0
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0
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黄哲尔
;
沈义明
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0
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沈义明
;
韦宗专
论文数:
0
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韦宗专
.
中国专利
:CN215575510U
,2022-01-18
[3]
一种倒装LED芯片光电性能测试装置
[P].
李龙
论文数:
0
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0
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0
李龙
;
张文杰
论文数:
0
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0
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张文杰
.
中国专利
:CN205103368U
,2016-03-23
[4]
一种倒装LED芯片的光电性能测试装置
[P].
王淑琴
论文数:
0
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0
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0
王淑琴
.
中国专利
:CN208207150U
,2018-12-07
[5]
一种倒装LED芯片的光电性能测试装置
[P].
王淑琴
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王淑琴
.
中国专利
:CN108828433A
,2018-11-16
[6]
一种芯片测试装置
[P].
余永庆
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余永庆
;
唐章海
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唐章海
;
王伟
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王伟
.
中国专利
:CN217846551U
,2022-11-18
[7]
一种芯片测试装置
[P].
冯国淇
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机构:
北京富光联创科技有限公司
北京富光联创科技有限公司
冯国淇
;
覃宗鹏
论文数:
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0
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0
机构:
北京富光联创科技有限公司
北京富光联创科技有限公司
覃宗鹏
.
中国专利
:CN221993589U
,2024-11-12
[8]
一种芯片测试装置
[P].
何士龙
论文数:
0
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0
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何士龙
.
中国专利
:CN213398652U
,2021-06-08
[9]
一种芯片测试装置
[P].
姜磊
论文数:
0
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姜磊
;
刘敬伟
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0
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0
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刘敬伟
;
仝飞
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仝飞
.
中国专利
:CN209728113U
,2019-12-03
[10]
一种芯片测试装置
[P].
李明
论文数:
0
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0
李明
;
郭晓旭
论文数:
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郭晓旭
;
樊晓华
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樊晓华
;
边海波
论文数:
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边海波
.
中国专利
:CN217360170U
,2022-09-02
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