标准放大图测量方法、测量装置及测量系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201710508006.3

申请日：

2017-06-28

公开(公告)号：

CN107144222B

公开(公告)日：

2017-09-08

发明(设计)人：

陈芳黄意樊军

申请人：

申请人地址：

412002 湖南省株洲市芦淞区董家塅

IPC主分类号：

G01B1100

IPC分类号：

G01B1124

代理机构：

长沙智嵘专利代理事务所(普通合伙) 43211

代理人：

胡亮

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2019-08-13	授权	授权
2017-10-10	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101751217262 IPC(主分类):G01B 11/00 专利申请号:2017105080063 申请日:20170628
2017-09-08	公开	公开

共 50 条

[1]

测量装置、测量系统及测量方法 [P].

石冢悠也 .

日本专利 :CN120813812A ,2025-10-17

[2]

测量系统、测量装置及测量方法 [P].

宫川智树 .

日本专利 :CN120958292A ,2025-11-14

[3]

测量装置、测量系统及测量方法 [P].

大森启史 .

中国专利 :CN111521247A ,2020-08-11

[4]

测量装置、测量系统及测量方法 [P].

松田京子 ;

足立佳久 ;

奥村哲也 .

日本专利 :CN119033330A ,2024-11-29

[5]

测量装置、测量系统、测量方法及程序 [P].

福家康隆 ;

小松洋音 ;

关根裕一 ;

依田秀夫 ;

小寺寿一 ;

齐藤英治 ;

小林新一 .

日本专利 :CN115362363B ,2025-06-17

[6]

测量装置、测量系统、测量方法及程序 [P].

福家康隆 ;

小松洋音 ;

关根裕一 ;

依田秀夫 ;

小寺寿一 ;

齐藤英治 ;

小林新一 .

中国专利 :CN115362363A ,2022-11-18

[7]

测量方法及测量系统 [P].

张孟卓 ;

薛霞铭 ;

谷文举 ;

张丽炜 ;

曹倩 ;

陈纪喆 .

中国专利 :CN120594335A ,2025-09-05

[8]

测量方法及测量系统 [P].

刘海珂 ;

曹君 ;

朴凯 ;

张亚军 ;

张永胜 ;

路宏杰 ;

肖兰 ;

夏君 .

中国专利 :CN120489068A ,2025-08-15

[9]

测量容器、测量系统及测量方法 [P].

井上胜 ;

大薮范昭 .

中国专利 :CN111727370A ,2020-09-29

[10]

TWAIN标准显微测量系统及测量方法 [P].

张维山 ;

鲁飞宇 .

中国专利 :CN108827146A ,2018-11-16

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