一种无损测量微球直径均匀度的测量装置及方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201910643473.6
申请日
2019-07-17
公开(公告)号
CN110333170B
公开(公告)日
2019-10-15
发明(设计)人
宋丽军 张鹏飞 李刚 张天才
申请人
申请人地址
030006 山西省太原市坞城路92号
IPC主分类号
G01N1502
IPC分类号
G01N2125
代理机构
太原申立德知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 14115
代理人
程园园
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种无损测量纳米光纤直径的装置及方法 [P]. 
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李刚 ;
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[2]
激光测量核孔膜均匀度的装置及其方法 [P]. 
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[3]
一种照度均匀度测量装置及测量系统 [P]. 
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[4]
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[5]
激光测量核孔膜均匀度的装置 [P]. 
莫丹 ;
袁平 ;
刘杰 ;
曹殿亮 ;
刘建德 ;
张胜霞 .
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[6]
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[7]
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[8]
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[9]
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刘嘉瑞 ;
安磊 ;
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[10]
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