基于点云与深度学习的缺陷检测方法和系统

被引:0
申请号
CN202210271151.5
申请日
2022-03-18
公开(公告)号
CN114627021A
公开(公告)日
2022-06-14
发明(设计)人
浦石
申请人
申请人地址
226000 江苏省南通市崇州大道60号紫琅科技城11B号楼8层
IPC主分类号
G06T500
IPC分类号
G06T700 G06N304 G06K962 G06V10774
代理机构
青岛发思特专利商标代理有限公司 37212
代理人
张洒洒
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
基于深度学习的缺陷检测方法和系统 [P]. 
王远 ;
焦健浩 ;
云鹏 ;
穆罕默德·奥斯曼·布塔 ;
孙学斌 ;
刘明 .
中国专利 :CN113538323A ,2021-10-22
[2]
基于深度学习的通用印刷缺陷检测方法及其模型 [P]. 
汪从玲 .
中国专利 :CN111709909B ,2024-02-20
[3]
基于深度学习的通用印刷缺陷检测方法及其模型 [P]. 
汪从玲 .
中国专利 :CN111709909A ,2020-09-25
[4]
一种基于合成缺陷与深度学习的纤维金属层板缺陷检测方法 [P]. 
林艳艳 ;
左锦帆 ;
罗志涛 ;
孟超 ;
李华冠 ;
王硕 .
中国专利 :CN121033487A ,2025-11-28
[5]
一种基于深度学习的CAD模型缝隙缺陷检测方法与装置 [P]. 
王琛智 ;
金耀 ;
何利力 ;
许威威 .
中国专利 :CN121032959A ,2025-11-28
[6]
基于深度学习的缺陷检测系统、物镜像差补偿方法和缺陷检测方法 [P]. 
张鹏斌 ;
徐安妮 ;
周璐阳 ;
郭凇铭 ;
胡诗铭 ;
陈鲁 .
中国专利 :CN120451136A ,2025-08-08
[7]
基于深度学习的缺陷检测系统、物镜像差补偿方法和缺陷检测方法 [P]. 
张鹏斌 ;
徐安妮 ;
周璐阳 ;
郭凇铭 ;
胡诗铭 ;
陈鲁 .
中国专利 :CN120451136B ,2025-10-31
[8]
一种基于深度学习的苹果表面缺陷检测方法和系统 [P]. 
安一文 ;
王田田 ;
张晓 .
中国专利 :CN120375360A ,2025-07-25
[9]
基于深度学习的缺陷检测方法、系统、装置和存储介质 [P]. 
万平 .
中国专利 :CN113870188A ,2021-12-31
[10]
基于深度学习的布匹缺陷检测方法 [P]. 
马意彭 ;
戴菲 ;
林勇康 ;
肖建 ;
蔡志匡 .
中国专利 :CN110175988A ,2019-08-27