基于全反射镜的二维光谱测量装置及测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510067863.5

申请日：

2015-02-10

公开(公告)号：

CN104614072B

公开(公告)日：

2015-05-13

发明(设计)人：

刘军黄政

申请人：

申请人地址：

201800 上海市嘉定区800－211邮政信箱

IPC主分类号：

G01J345

IPC分类号：

G01N2125

代理机构：

上海新天专利代理有限公司 31213

代理人：

张泽纯;张宁展

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2016-09-21	授权	授权
2015-05-13	公开	公开
2015-06-10	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101612415157 IPC(主分类):G01J 3/45 专利申请号:2015100678635 申请日:20150210

共 50 条

[1]

漫反射光谱测量装置及测量方法 [P].

李晨曦 ;

徐可欣 ;

李胜 ;

赵丕成 ;

汤海涛 .

中国专利 :CN109444082A ,2019-03-08

[2]

漫反射光谱测量装置及测量方法 [P].

李晨曦 ;

徐可欣 ;

李胜 ;

赵丕成 ;

汤海涛 .

中国专利 :CN109444082B ,2024-06-07

[3]

光谱测量系统及测量方法 [P].

戴琼海 ;

高彬 ;

张晶 ;

邵航 ;

范静涛 .

中国专利 :CN106841118A ,2017-06-13

[4]

基于弹光效应的光谱测量装置及光谱测量方法 [P].

许超 ;

杨涛 ;

蔡祥宝 ;

李兴鳌 ;

周馨慧 ;

仪明东 ;

何浩培 ;

黄维 .

中国专利 :CN103759831A ,2014-04-30

[5]

基于磁光调制的光谱测量装置及光谱测量方法 [P].

杨涛 ;

黄维 ;

许超 ;

仪明东 ;

李兴鳌 ;

周馨慧 ;

何浩培 ;

王义成 .

中国专利 :CN103759829B ,2014-04-30

[6]

光谱测量装置、图像形成装置以及光谱测量方法 [P].

五味二夫 .

中国专利 :CN106017687B ,2016-10-12

[7]

一种二维光谱仪光谱测量方法 [P].

李燕 ;

潘建根 .

中国专利 :CN119935310A ,2025-05-06

[8]

扫描反射镜振幅测量装置及测量方法 [P].

王兴海 ;

袁明波 ;

王海江 .

中国专利 :CN107664922B ,2018-02-06

[9]

光谱测量系统与光谱测量方法 [P].

杨富程 ;

庄凯评 .

中国专利 :CN103115677A ,2013-05-22

[10]

一种二维光谱测量装置 [P].

潘建根 .

中国专利 :CN201780164U ,2011-03-30

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