一种用于IPM高温反偏试验系统的老化板

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202122229909.2

申请日：

2021-09-15

公开(公告)号：

CN215641586U

公开(公告)日：

2022-01-25

发明(设计)人：

胡久恒代凯旋胡久旺安浙文

申请人：

申请人地址：

311122 浙江省杭州市余杭区闲林街道裕丰路7号5号楼4层

IPC主分类号：

G01R3100

IPC分类号：

G01R104 G01R136

代理机构：

杭州广奥专利代理事务所(特殊普通合伙) 33334

代理人：

高丽敏

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-01-25	授权	授权

共 50 条

[1]

一种高温反偏试验系统 [P].

马云龙 ;

程莹 .

中国专利 :CN217787290U ,2022-11-11

[2]

一种用于IPM模块高温工作寿命试验的老化板 [P].

胡久恒 ;

代凯旋 ;

胡久旺 ;

安浙文 .

中国专利 :CN215493906U ,2022-01-11

[3]

一种高温反偏老化测试系统 [P].

吴志刚 ;

刘年富 ;

陈益敏 .

中国专利 :CN217954601U ,2022-12-02

[4]

功率器件高温反偏试验系统 [P].

赵振华 .

中国专利 :CN202631688U ,2012-12-26

[5]

一种用于PCB设计的高温反偏试验系统 [P].

王黎明 .

中国专利 :CN118376907A ,2024-07-23

[6]

一种高温反偏试验监控柜 [P].

胡久恒 ;

安浙文 .

中国专利 :CN211785917U ,2020-10-27

[7]

一种可换向高温反偏老化试验系统 [P].

林华辉 ;

黄永军 ;

陈波 ;

陈俊威 ;

李浪华 .

中国专利 :CN117406055A ,2024-01-16

[8]

微波器件高温反偏老化测试系统 [P].

陈益敏 .

中国专利 :CN214750606U ,2021-11-16

[9]

IGBT模块高温反偏老化测试系统 [P].

刘年富 .

中国专利 :CN214703868U ,2021-11-12

[10]

高温反偏试验电路的保护电路 [P].

梁维群 ;

董志意 ;

高夫强 ;

赵善麒 .

中国专利 :CN208922148U ,2019-05-31

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