电子元器件高速测试分选设备

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN201110272643.8
申请日
2011-09-14
公开(公告)号
CN102357473A
公开(公告)日
2012-02-22
发明(设计)人
林琳 缪来虎 卓维煌 李靖鹏 聂晶 曾庆略
申请人
申请人地址
518055 广东省深圳市南山区桃源街道丽山路大学城创业园1009室
IPC主分类号
B07C536
IPC分类号
G01R3100 G01R3126
代理机构
代理人
法律状态
发明专利申请公布后的驳回
国省代码
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共 50 条
[1]
电子元器件高速测试分选设备 [P]. 
林琳 ;
缪来虎 ;
卓维煌 ;
李靖鹏 ;
聂晶 ;
曾庆略 .
中国专利 :CN202290607U ,2012-07-04
[2]
电子元器件管到管高速测试分选系统 [P]. 
何纪法 .
中国专利 :CN2897460Y ,2007-05-09
[3]
一种电子元器件测试分选机 [P]. 
张万红 ;
李静 ;
何飞翔 .
中国专利 :CN208583661U ,2019-03-08
[4]
电子元器件测试装置及分选机 [P]. 
张新 ;
郑军 ;
钱徐锋 ;
邬晨欢 ;
黄举 .
中国专利 :CN113894066A ,2022-01-07
[5]
电子元器件测试装置及分选机 [P]. 
张新 ;
郑军 ;
钱徐锋 ;
邬晨欢 ;
黄举 .
中国专利 :CN216574289U ,2022-05-24
[6]
一种电子元器件分选设备 [P]. 
王金翔 .
中国专利 :CN115502110A ,2022-12-23
[7]
电子元器件测试设备 [P]. 
张勇 .
中国专利 :CN114384279A ,2022-04-22
[8]
电子元器件测试设备 [P]. 
姜爱兰 ;
刘勇 .
中国专利 :CN203054119U ,2013-07-10
[9]
电子元器件测试设备 [P]. 
刘丹 .
中国专利 :CN108828372A ,2018-11-16
[10]
电子元器件测试设备 [P]. 
浅野功 ;
丹国广 .
中国专利 :CN101031808A ,2007-09-05