硅片中金属含量的测量方法

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202110330104.9
申请日
2021-03-29
公开(公告)号
CN112713103B
公开(公告)日
2021-04-27
发明(设计)人
谭继东 郭恺辰 程远梅
申请人
申请人地址
710065 陕西省西安市高新区锦业路1号都市之门A座1323室
IPC主分类号
H01L2166
IPC分类号
G01N332028 G01N2762
代理机构
北京银龙知识产权代理有限公司 11243
代理人
许静;张博
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
一种硅片中氧沉淀大小的测量方法 [P]. 
刘赟 ;
王昊 ;
薛忠营 ;
魏星 .
中国专利 :CN119534398B ,2025-09-26
[2]
一种硅片中氧沉淀大小的测量方法 [P]. 
刘赟 ;
王昊 ;
薛忠营 ;
魏星 .
中国专利 :CN119534398A ,2025-02-28
[3]
硅片表面金属元素的测量方法 [P]. 
李晓丽 ;
孙威 .
中国专利 :CN104165922B ,2014-11-26
[4]
MLCC电极浆料金属含量测量方法 [P]. 
彭文 ;
黄翔 ;
李荣林 .
中国专利 :CN119915668B ,2025-11-14
[5]
MLCC电极浆料金属含量测量方法 [P]. 
彭文 ;
黄翔 ;
李荣林 .
中国专利 :CN119915668A ,2025-05-02
[6]
锂含量的测量方法 [P]. 
陈瑞瑞 ;
胡恒广 ;
张广涛 ;
刘泽文 ;
岳志芳 ;
刘文渊 .
中国专利 :CN117825309A ,2024-04-05
[7]
硅片测量方法及系统 [P]. 
李安杰 ;
兰洵 ;
张婉婉 ;
李彤 .
中国专利 :CN119650450B ,2025-10-17
[8]
硅片测量方法及系统 [P]. 
李安杰 ;
兰洵 ;
张婉婉 ;
李彤 .
中国专利 :CN119650450A ,2025-03-18
[9]
辉钼矿含量的测量方法 [P]. 
王铜 ;
张磊 ;
宋超 ;
于鸿宾 .
中国专利 :CN118896887B ,2025-02-07
[10]
玻璃组分含量的测量方法 [P]. 
罗良红 ;
曹生硕 .
中国专利 :CN109856120A ,2019-06-07