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IC芯片烧录检测装置及检测方法
被引:0
申请号
:
CN202211361561.5
申请日
:
2022-11-02
公开(公告)号
:
CN115684204A
公开(公告)日
:
2023-02-03
发明(设计)人
:
邓伍群
李义靠
申请人
:
申请人地址
:
518128 广东省深圳市宝安区航城街道黄田社区黄田杨贝工业区一期4栋201、301、402
IPC主分类号
:
G01N2195
IPC分类号
:
G01N2101
G01N2113
B07C534
B07C536
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2023-02-03
公开
公开
共 50 条
[1]
IC芯片烧录检测装置及检测方法
[P].
邓伍群
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市华力宇电子科技有限公司
深圳市华力宇电子科技有限公司
邓伍群
;
李义靠
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市华力宇电子科技有限公司
深圳市华力宇电子科技有限公司
李义靠
.
中国专利
:CN115684204B
,2025-05-13
[2]
一种IC芯片烧录检测装置及检测方法
[P].
张风歌
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州德爱思电子科技有限公司
苏州德爱思电子科技有限公司
张风歌
;
常磊
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州德爱思电子科技有限公司
苏州德爱思电子科技有限公司
常磊
;
程雷
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
苏州德爱思电子科技有限公司
苏州德爱思电子科技有限公司
程雷
;
刘余兰
论文数:
0
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0
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0
机构:
苏州德爱思电子科技有限公司
苏州德爱思电子科技有限公司
刘余兰
.
中国专利
:CN120044378A
,2025-05-27
[3]
芯片错料检测装置及检测方法、芯片烧录方法及烧录系统
[P].
任加华
论文数:
0
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0
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0
任加华
;
路晓东
论文数:
0
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路晓东
;
钱之政
论文数:
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钱之政
;
赵树磊
论文数:
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赵树磊
;
刘上
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刘上
;
林大毅
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0
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林大毅
.
中国专利
:CN105632556A
,2016-06-01
[4]
IC芯片检测装置
[P].
刘世洪
论文数:
0
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0
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0
刘世洪
.
中国专利
:CN112604983B
,2021-04-06
[5]
芯片检测装置及芯片烧录机
[P].
唐龙
论文数:
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唐龙
;
胡勇
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胡勇
;
陈勇
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陈勇
.
中国专利
:CN215003466U
,2021-12-03
[6]
芯片检测方法及芯片检测装置
[P].
周舰波
论文数:
0
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0
周舰波
.
中国专利
:CN113075533B
,2021-07-06
[7]
芯片检测方法及芯片检测装置
[P].
周舰波
论文数:
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周舰波
.
中国专利
:CN113075532A
,2021-07-06
[8]
芯片检测装置及芯片检测方法
[P].
高振凯
论文数:
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机构:
友达光电股份有限公司
友达光电股份有限公司
高振凯
;
魏福呈
论文数:
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机构:
友达光电股份有限公司
友达光电股份有限公司
魏福呈
.
中国专利
:CN118584294A
,2024-09-03
[9]
IC芯片烧录装置
[P].
陈冬兵
论文数:
0
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0
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0
陈冬兵
.
中国专利
:CN204407011U
,2015-06-17
[10]
IC芯片检测装置的检测机构
[P].
刘世洪
论文数:
0
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0
刘世洪
.
中国专利
:CN213516936U
,2021-06-22
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