IC芯片烧录检测装置及检测方法

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申请号
CN202211361561.5
申请日
2022-11-02
公开(公告)号
CN115684204A
公开(公告)日
2023-02-03
发明(设计)人
邓伍群 李义靠
申请人
申请人地址
518128 广东省深圳市宝安区航城街道黄田社区黄田杨贝工业区一期4栋201、301、402
IPC主分类号
G01N2195
IPC分类号
G01N2101 G01N2113 B07C534 B07C536
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
IC芯片烧录检测装置及检测方法 [P]. 
邓伍群 ;
李义靠 .
中国专利 :CN115684204B ,2025-05-13
[2]
一种IC芯片烧录检测装置及检测方法 [P]. 
张风歌 ;
常磊 ;
程雷 ;
刘余兰 .
中国专利 :CN120044378A ,2025-05-27
[3]
芯片错料检测装置及检测方法、芯片烧录方法及烧录系统 [P]. 
任加华 ;
路晓东 ;
钱之政 ;
赵树磊 ;
刘上 ;
林大毅 .
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[4]
IC芯片检测装置 [P]. 
刘世洪 .
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[5]
芯片检测装置及芯片烧录机 [P]. 
唐龙 ;
胡勇 ;
陈勇 .
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[6]
芯片检测方法及芯片检测装置 [P]. 
周舰波 .
中国专利 :CN113075533B ,2021-07-06
[7]
芯片检测方法及芯片检测装置 [P]. 
周舰波 .
中国专利 :CN113075532A ,2021-07-06
[8]
芯片检测装置及芯片检测方法 [P]. 
高振凯 ;
魏福呈 .
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[9]
IC芯片烧录装置 [P]. 
陈冬兵 .
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[10]
IC芯片检测装置的检测机构 [P]. 
刘世洪 .
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