芯片错料检测装置及检测方法、芯片烧录方法及烧录系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201510989363.7

申请日：

2015-12-25

公开(公告)号：

CN105632556A

公开(公告)日：

2016-06-01

发明(设计)人：

任加华路晓东钱之政赵树磊刘上林大毅

申请人：

申请人地址：

215341 江苏省苏州市昆山市千灯镇黄浦路497号4幢

IPC主分类号：

G11C1610

IPC分类号：

G11C1620 G11C2900 G11C2912

代理机构：

上海硕力知识产权代理事务所 31251

代理人：

郭桂峰

法律状态：

发明专利申请公布后的驳回

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-01-24	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G11C 16/10 申请公布日:20160601
2016-06-01	公开	公开
2016-06-29	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101667878603 IPC(主分类):G11C 16/10 专利申请号:2015109893637 申请日:20151225

共 50 条

[1]

IC芯片烧录检测装置及检测方法 [P].

邓伍群 ;

李义靠 .

中国专利 :CN115684204B ,2025-05-13

[2]

IC芯片烧录检测装置及检测方法 [P].

邓伍群 ;

李义靠 .

中国专利 :CN115684204A ,2023-02-03

[3]

芯片检测装置及芯片烧录机 [P].

唐龙 ;

胡勇 ;

陈勇 .

中国专利 :CN215003466U ,2021-12-03

[4]

一种IC芯片烧录检测装置及检测方法 [P].

张风歌 ;

常磊 ;

程雷 ;

刘余兰 .

中国专利 :CN120044378A ,2025-05-27

[5]

芯片检测方法及芯片检测装置 [P].

周舰波 .

中国专利 :CN113075533B ,2021-07-06

[6]

芯片检测方法及芯片检测装置 [P].

周舰波 .

中国专利 :CN113075532A ,2021-07-06

[7]

烧录程序检测系统及方法 [P].

庞玮 ;

刘洋 .

中国专利 :CN103870386A ,2014-06-18

[8]

芯片检测装置及芯片检测方法 [P].

高振凯 ;

魏福呈 .

中国专利 :CN118584294A ,2024-09-03

[9]

芯片检测方法及芯片检测系统 [P].

王洲 ;

唐晓楠 ;

孙烨磊 ;

李慧清 ;

杨雷明 ;

杨威 ;

王春祥 ;

邰阳 ;

宋雨江 ;

巴宁 ;

韩亚 ;

徐彦卿 .

中国专利 :CN115629300A ,2023-01-20

[10]

芯片外观检测装置、芯片及芯片外观检测方法 [P].

周培松 ;

许燚赟 ;

张文昊 .

中国专利 :CN117110292B ,2025-08-12

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