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一种IC芯片烧录检测装置及检测方法

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510448683.5
申请日：
2025-04-10
公开(公告)号：
CN120044378A
公开(公告)日：
2025-05-27
发明(设计)人：
张风歌 常磊 程雷 刘余兰
申请人：
苏州德爱思电子科技有限公司
申请人地址：
215000 江苏省苏州市工业园区唯新路50号11幢4楼409室
IPC主分类号：
G01R31/28
IPC分类号：
B07C5/34 B07C5/36 B07C5/38 G01N21/892
代理机构：
苏州睿翼专利代理事务所(普通合伙) 32514
代理人：
李慧敏
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-06-13 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G01R 31/28申请日:20250410
2025-05-27 公开 公开
2025-12-30 发明专利申请公布后的撤回 发明专利申请公布后的撤回IPC(主分类):G01R 31/28申请公布日:20250527
共 50 条
[1]
IC芯片烧录检测装置及检测方法 [P]. 
邓伍群 ;
李义靠 .
中国专利 :CN115684204B ,2025-05-13
[2]
IC芯片烧录检测装置及检测方法 [P]. 
邓伍群 ;
李义靠 .
中国专利 :CN115684204A ,2023-02-03
[3]
芯片错料检测装置及检测方法、芯片烧录方法及烧录系统 [P]. 
任加华 ;
路晓东 ;
钱之政 ;
赵树磊 ;
刘上 ;
林大毅 .
中国专利 :CN105632556A ,2016-06-01
[4]
IC芯片检测装置 [P]. 
刘世洪 .
中国专利 :CN112604983B ,2021-04-06
[5]
芯片检测装置及芯片烧录机 [P]. 
唐龙 ;
胡勇 ;
陈勇 .
中国专利 :CN215003466U ,2021-12-03
[6]
芯片检测方法及芯片检测装置 [P]. 
周舰波 .
中国专利 :CN113075533B ,2021-07-06
[7]
芯片检测方法及芯片检测装置 [P]. 
周舰波 .
中国专利 :CN113075532A ,2021-07-06
[8]
芯片检测装置及芯片检测方法 [P]. 
高振凯 ;
魏福呈 .
中国专利 :CN118584294A ,2024-09-03
[9]
一种芯片检测装置及检测方法 [P]. 
李龙 .
中国专利 :CN118501658A ,2024-08-16
[10]
一种芯片检测装置及检测方法 [P]. 
罗建华 ;
罗炜桓 ;
刘佳华 ;
邹辉庭 ;
李刁龙 ;
龙志斌 .
中国专利 :CN118904738B ,2024-12-27
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