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一种LED芯片测试用稳定型测试台
被引:0
申请号
:
CN202221048257.0
申请日
:
2022-05-05
公开(公告)号
:
CN217404355U
公开(公告)日
:
2022-09-09
发明(设计)人
:
杨良春
赵永峰
申请人
:
申请人地址
:
233000 安徽省蚌埠市财院路10号214所内(科研综合楼)2层
IPC主分类号
:
G01R104
IPC分类号
:
G01R3128
G01V810
代理机构
:
北京盛凡佳华专利代理事务所(普通合伙) 11947
代理人
:
王小燕
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-09-09
授权
授权
共 50 条
[1]
一种芯片封装测试用高稳定性测试台
[P].
艾育林
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市立能威微电子有限公司
深圳市立能威微电子有限公司
艾育林
;
林延海
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
深圳市立能威微电子有限公司
深圳市立能威微电子有限公司
林延海
.
中国专利
:CN220983356U
,2024-05-17
[2]
一种芯片测试台
[P].
王君
论文数:
0
引用数:
0
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0
王君
.
中国专利
:CN214374918U
,2021-10-08
[3]
一种LED测试用探针测试台
[P].
张洪梅
论文数:
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引用数:
0
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0
机构:
峰雨光电科技(上海)有限公司
峰雨光电科技(上海)有限公司
张洪梅
;
张洪叶
论文数:
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0
机构:
峰雨光电科技(上海)有限公司
峰雨光电科技(上海)有限公司
张洪叶
;
代剑楠
论文数:
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0
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0
机构:
峰雨光电科技(上海)有限公司
峰雨光电科技(上海)有限公司
代剑楠
.
中国专利
:CN120908493A
,2025-11-07
[4]
一种基于集成电路芯片测试用芯片测试台
[P].
郭弘扬
论文数:
0
引用数:
0
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0
机构:
都芯半导体科技(成都)有限公司
都芯半导体科技(成都)有限公司
郭弘扬
.
中国专利
:CN222189357U
,2024-12-17
[5]
一种开关测试台
[P].
谭勇
论文数:
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谭勇
;
汤剑
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汤剑
;
谢长雄
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谢长雄
;
周芳芹
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周芳芹
;
王涛
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王涛
.
中国专利
:CN206074249U
,2017-04-05
[6]
芯片测试台
[P].
王琳
论文数:
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王琳
;
唐国强
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唐国强
;
陈云
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陈云
;
顾方成
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顾方成
;
沈国平
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沈国平
.
中国专利
:CN201514459U
,2010-06-23
[7]
一种半导体芯片测试台
[P].
张韶芬
论文数:
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张韶芬
.
中国专利
:CN214953943U
,2021-11-30
[8]
一种电路板测试用测试台
[P].
胡军
论文数:
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胡军
.
中国专利
:CN218382958U
,2023-01-24
[9]
一种电机线圈测试用定子测试台
[P].
李强春
论文数:
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李强春
.
中国专利
:CN218037222U
,2022-12-13
[10]
芯片转动测试台
[P].
桂义勇
论文数:
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机构:
苏州永创智能科技有限公司
苏州永创智能科技有限公司
桂义勇
;
张伟祥
论文数:
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机构:
苏州永创智能科技有限公司
苏州永创智能科技有限公司
张伟祥
.
中国专利
:CN223526395U
,2025-11-07
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