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一种用于集成电路测试的多工位辅助定位装置
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202010606750.9
申请日
:
2020-06-29
公开(公告)号
:
CN111650468A
公开(公告)日
:
2020-09-11
发明(设计)人
:
刘宵玲
申请人
:
申请人地址
:
364000 福建省龙岩市新罗区曹溪街道双龙路万达中心24层2417
IPC主分类号
:
G01R3101
IPC分类号
:
G01R3128
代理机构
:
北京久维律师事务所 11582
代理人
:
陈强
法律状态
:
公开
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2020-09-11
公开
公开
2022-01-11
发明专利申请公布后的撤回
发明专利申请公布后的撤回 IPC(主分类):G01R 31/01 申请公布日:20200911
2020-10-13
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/01 申请日:20200629
共 50 条
[1]
集成电路测试多工位定位装置
[P].
叶键波
论文数:
0
引用数:
0
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0
叶键波
;
韩笑
论文数:
0
引用数:
0
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0
韩笑
;
王维
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王维
.
中国专利
:CN102636739A
,2012-08-15
[2]
集成电路测试多工位定位装置
[P].
叶键波
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
叶键波
;
韩笑
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
韩笑
;
王维
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
王维
.
中国专利
:CN202563062U
,2012-11-28
[3]
一种用于集成电路测试的多工位定位装置
[P].
李付全
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
李付全
.
中国专利
:CN214310608U
,2021-09-28
[4]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
刘芳婷
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
刘芳婷
.
中国专利
:CN207861418U
,2018-09-14
[5]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
胡志东
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
胡志东
.
中国专利
:CN214953947U
,2021-11-30
[6]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
彭佳颖
论文数:
0
引用数:
0
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0
彭佳颖
.
中国专利
:CN218427826U
,2023-02-03
[7]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
厉纪成
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
厉纪成
.
中国专利
:CN112485479A
,2021-03-12
[8]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
洪碧凤
论文数:
0
引用数:
0
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0
洪碧凤
.
中国专利
:CN208334563U
,2019-01-04
[9]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
陈少宽
论文数:
0
引用数:
0
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0
陈少宽
;
曾建阳
论文数:
0
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0
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0
曾建阳
;
曾振崇
论文数:
0
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0
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0
曾振崇
.
中国专利
:CN208109885U
,2018-11-16
[10]
一种集成电路测试多工位定位装置
[P].
谢银泉
论文数:
0
引用数:
0
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0
谢银泉
.
中国专利
:CN110095705A
,2019-08-06
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