检查装置

被引:0
申请号
CN202210896934.2
申请日
2022-07-28
公开(公告)号
CN115706024A
公开(公告)日
2023-02-17
发明(设计)人
木村展之
申请人
申请人地址
日本东京都
IPC主分类号
H01L2166
IPC分类号
代理机构
北京三友知识产权代理有限公司 11127
代理人
乔婉;于靖帅
法律状态
公开
国省代码
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共 50 条
[1]
检查装置 [P]. 
洪权三 ;
洪光泽 ;
禹和成 .
韩国专利 :CN220671290U ,2024-03-26
[2]
检查装置 [P]. 
能丸圭司 ;
泽边大树 .
中国专利 :CN111487260A ,2020-08-04
[3]
晶片检查装置和晶片检查方法 [P]. 
木村展之 .
中国专利 :CN113739716A ,2021-12-03
[4]
电路板检查装置及检查方法 [P]. 
郑仲基 ;
李有振 ;
李承埈 ;
黄凤夏 .
中国专利 :CN103185549B ,2013-07-03
[5]
被加工物的检查方法和检查装置 [P]. 
伊贺勇人 .
日本专利 :CN117747457A ,2024-03-22
[6]
阀门接触面的检查方法以及检查装置 [P]. 
在田和弘 ;
西川昌司 ;
长谷部达郎 .
中国专利 :CN113125465A ,2021-07-16
[7]
检查装置和带扩展装置 [P]. 
川口吉洋 .
中国专利 :CN114765114A ,2022-07-19
[8]
照相机、印刷电路板检查装置、照相机检查装置及检查方法 [P]. 
谷冈康伸 ;
中沢勇 .
中国专利 :CN1190198A ,1998-08-12
[9]
压痕检查装置及其方法 [P]. 
许玟硕 ;
孙暎卓 .
中国专利 :CN101587083B ,2009-11-25
[10]
检查装置及检查方法 [P]. 
铃木信介 ;
寺田浩敏 ;
松田俊辅 .
中国专利 :CN111564384A ,2020-08-21