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电子元器件测试方法、测试设备和智能锁
被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202111332493.5
申请日：
2021-11-11
公开(公告)号：
CN114137334A
公开(公告)日：
2022-03-04
发明(设计)人：
陈怡威
申请人：
申请人地址：
528414 广东省中山市东升镇东成北路6号
IPC主分类号：
G01R3100
IPC分类号：
G07C900
代理机构：
北京鸿元知识产权代理有限公司 11327
代理人：
李平;杨桦
法律状态：
公开
国省代码：
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法律状态
| 法律状态公告日 | 法律状态 | 法律状态信息 |
| 2022-03-04 | 公开 | 公开 |
| 2022-03-22 | 实质审查的生效 | 实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/00 申请日:20211111 |