一种迁移测试池底座结构

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN201920623021.7

申请日：

2019-04-30

公开(公告)号：

CN210243432U

公开(公告)日：

2020-04-03

发明(设计)人：

赵晓甫李小英刘肖肖高晓哲张玉霞沈忱端贺

申请人：

申请人地址：

050091 河北省石家庄市中华南大街537号

IPC主分类号：

G01N1300

IPC分类号：

代理机构：

石家庄国为知识产权事务所 13120

代理人：

王朝

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2020-04-03	授权	授权

共 50 条

[1]

一种迁移测试池密封结构 [P].

耿晓红 ;

刘婷婷 ;

蔡立鹏 ;

张明 ;

高晓哲 ;

李璐 ;

韩云皓 .

中国专利 :CN210243430U ,2020-04-03

[2]

一种浓密池底座结构 [P].

单旋 ;

朱宇 .

中国专利 :CN220695929U ,2024-04-02

[3]

一种迁移测试池盖板结构 [P].

韩贞年 ;

赵晓甫 ;

刘肖肖 ;

雷婧 ;

陈畅 ;

赵慧 ;

侯云 .

中国专利 :CN210243431U ,2020-04-03

[4]

一种电迁移测试结构 [P].

王志强 ;

李宁曦 ;

韩坤 .

中国专利 :CN210743940U ,2020-06-12

[5]

一种电迁移测试结构 [P].

冯军宏 .

中国专利 :CN205789952U ,2016-12-07

[6]

一种电迁移测试结构 [P].

陈芳 .

中国专利 :CN205376473U ,2016-07-06

[7]

一种电迁移测试结构 [P].

王佼 ;

宋永梁 .

中国专利 :CN204045580U ,2014-12-24

[8]

一种电迁移测试结构 [P].

陈芳 .

中国专利 :CN205376515U ,2016-07-06

[9]

一种隔离磁性式迁移测试池 [P].

吕晓飞 ;

李晨曦 ;

张蓓 ;

赵晓甫 ;

刘新星 ;

曹雪涛 ;

魏玮 .

中国专利 :CN210243433U ,2020-04-03

[10]

一种耐离子迁移测试结构 [P].

李军 ;

李俊 .

中国专利 :CN216209667U ,2022-04-05

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