一种耐离子迁移测试结构

被引：0

申请号：

CN202122558249.2

申请日：

2021-10-22

公开(公告)号：

CN216209667U

公开(公告)日：

2022-04-05

发明(设计)人：

李军李俊

申请人：

申请人地址：

523000 广东省东莞市黄江镇板湖北三街七号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

广州粤高专利商标代理有限公司 44102

代理人：

唐琴

法律状态：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-04-05	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电迁移测试结构 [P].

王志强 ;

李宁曦 ;

韩坤 .

中国专利 :CN210743940U ,2020-06-12

[2]

一种电迁移测试结构 [P].

冯军宏 .

中国专利 :CN205789952U ,2016-12-07

[3]

一种电迁移测试结构 [P].

陈芳 .

中国专利 :CN205376473U ,2016-07-06

[4]

一种电迁移测试结构 [P].

王佼 ;

宋永梁 .

中国专利 :CN204045580U ,2014-12-24

[5]

一种电迁移测试结构 [P].

陈芳 .

中国专利 :CN205376515U ,2016-07-06

[6]

一种具有耐离子迁移结构的覆铜板 [P].

杨伟明 ;

左朝钧 ;

熊文华 ;

薛正林 ;

费良敏 ;

卢建强 ;

程智 ;

赵军 .

中国专利 :CN204263647U ,2015-04-15

[7]

一种迁移测试池密封结构 [P].

耿晓红 ;

刘婷婷 ;

蔡立鹏 ;

张明 ;

高晓哲 ;

李璐 ;

韩云皓 .

中国专利 :CN210243430U ,2020-04-03

[8]

一种迁移测试池底座结构 [P].

赵晓甫 ;

李小英 ;

刘肖肖 ;

高晓哲 ;

张玉霞 ;

沈忱 ;

端贺 .

中国专利 :CN210243432U ,2020-04-03

[9]

电迁移测试结构 [P].

单文光 ;

宋永梁 .

中国专利 :CN206332024U ,2017-07-14

[10]

电迁移测试结构 [P].

赵祥富 .

中国专利 :CN204720446U ,2015-10-21

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